[發(fā)明專利]氣相生長裝置及外延晶片的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201780054077.9 | 申請日: | 2017-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN109661715B | 公開(公告)日: | 2023-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 大西理;桝村壽 | 申請(專利權(quán))人: | 信越半導(dǎo)體株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/205 | 分類號: | H01L21/205;C23C16/455 |
| 代理公司: | 北京德崇智捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11467 | 代理人: | 賀征華 |
| 地址: | 日本國東京*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 相生 裝置 外延 晶片 制造 方法 | ||
1.一種氣相生長裝置,其特征在于,
包括:
反應(yīng)爐,其通過原料氣體使外延層氣相生長于基板;
通路,其包括通往上述反應(yīng)爐內(nèi)的入口、及位于上述入口的上方且較上述入口靠上述反應(yīng)爐側(cè)并且到達(dá)上述反應(yīng)爐內(nèi)之出口,將上述入口與上述出口連接從而將上述原料氣體導(dǎo)入上述反應(yīng)爐內(nèi);
階部,其位于上述通路內(nèi),且包括與上述入口對向的第1面及自上述第1面的上端延伸至上述出口的第2面;
多條流路,其自上述入口延伸至上述入口的外側(cè),用于將上述原料氣體引導(dǎo)至上述入口,且為32條以上;
合流路,其為上述多條流路自上述入口側(cè)朝向上述原料氣體的上游側(cè)呈競賽狀合流并于上述原料氣體的上游側(cè)相連;及
多條分割通路,其沿著上述原料氣體流動的方向與上述多條流路對應(yīng)地將上述通路進(jìn)行分割,且分別與上述多條流路連接并相通,
其中,上述分割通路僅形成有與上述多條流路對應(yīng)的數(shù)量,自上述入口經(jīng)由上述階部而朝向上述出口延伸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣相生長裝置,其特征在于,
其中,上述多條流路合計為64條以上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣相生長裝置,其特征在于,
其中,上述多條流路沿著水平面分別并列配置。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的氣相生長裝置,其特征在于,
其中,上述多條流路沿著上述水平面相互鄰接。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的氣相生長裝置,其特征在于,
還包括:支柱部,其自上述反應(yīng)爐朝向一對上述流路之間延伸。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





