[發明專利]用于檢查容器的設備和方法有效
| 申請號: | 201780033822.1 | 申請日: | 2017-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN109313142B | 公開(公告)日: | 2022-04-01 |
| 發明(設計)人: | E·鮑爾;H·M·尼爾森 | 申請(專利權)人: | 星德科技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/90 | 分類號: | G01N21/90;G01N21/88 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 郭毅 |
| 地址: | 德國魏*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢查 容器 設備 方法 | ||
提出用于檢查容器的一種設備和一種方法,其中,所述設備包括用于光學地檢查至少一個容器(12)的至少一個攝像機(15),其中,所述容器(12)具有容器軸線(7),其中,至少一個容器接收部(21)設置用于機械式地接收所述待檢查的容器(12);其中,至少一個透射光(19)設置用于以相對于所述容器軸線(7)成角度(α)的一光路透射所述待檢查的容器(12),其中,所述攝像機(15)拍攝借助透射光(19)透射的容器(12)的至少一個圖像,其中,除所述透射光(19)之外,設置用于照明所述待檢查的容器(12)的至少一個反射光(18,20),并且,其中,所述反射光(18,20)如此布置,使得其以相對于所述容器軸線(7)成不同于所述透射光(19)的角度(α)的角度(β)的一光路射到所述容器(12)上。
技術領域
本發明從根據獨立權利要求的類型的、用于檢查容器的一種設備和一種方法出發。從US 7,560,720 B2已知一種根據類型的設備。在那里,容器通過供給裝置和螺旋傳輸機提供給不同的傳輸輪子。最后,待檢查的容器到達轉盤中,在所述轉盤的中心布置有多個攝像機。反射器以合適的方式布置,從而攝像機能夠檢查容器。替代地,也可以設置兩個攝像機用于檢查唯一的容器的不同區域。
發明內容
本發明基于以下任務:進一步改進所述系統。該任務通過獨立權利要求的特征來解決。
發明的優點
與之相對地,根據獨立權利要求的特征的、用于檢查容器的、根據本發明的設備和根據本發明的方法具有以下優點:提高檢查的準確性。為此,一方面擴大檢查持續時間。此外,降低由于相鄰的系統的照明干涉而產生的錯誤率,其方式是,使相鄰的檢查系統的相位變化同步。通過使用不同的照明類型還可以更可靠地探測異物顆粒。因此,根據本發明,添加另外的光源,所述另外的光源尤其可靠地探測進行反射的異物顆粒并且被稱作反射光。通過反射光如此布置使得其光路相比透射光的光路以不同的角度射到容器上的方式,可以根據異物顆粒的如此引起的反射以更高的概率將其識別出。
在一種符合目的的擴展方案中設置,反射光和透射光在不同的時刻接通、優選交替地接通。由此可以減少相互干擾,這進一步提高設備的準確性。特別優選地,可以在不同的時刻接通不同的檢查模塊的照明裝置或者攝像機。那么可以減少例如由于在設備上的反射而引起的干擾。例如可能發生:光從一個站無意地射到另外的站的攝像機傳感器上,所述光是直接地或者通過在不同的機器表面上的反射射到另外的站的攝像機傳感器上,并且因此損害另外的站的圖像。通過以下方式避免這一點。因此,使潛在受影響的各個站的圖像拍攝在光測頻器模式下如此同步,使得這些站的圖像拍攝總是在時間上錯開地進行。因此,排除干擾性的影響,而不必對于每個單個的站使用例如機械式的光屏蔽裝置。
在一種符合目的的擴展方案中設置,反射光和/或透射光如此構造,使得可以同時照明至少兩個容器。可以使檢查的分辨率倍增,例如從25μm到50μm。
在一種符合目的的擴展方案中設置,由被所述攝像機在確定的時刻拍攝的至少一個圖像構成用于第一容器的至少一個部分圖像和用于至少一個第二容器的另外的部分圖像。因此,可以借助僅僅一個攝像機創建用于兩個容器的圖像序列。部分圖像與圖像序列的對應可以通過圖像處理軟件來進行,例如與容器輪廓結合地或者根據容器的已知的運動過程進行。
在一種符合目的的擴展方案中設置,所述圖像接收部和/或所述旋轉單元如此構造,使得在通過所述攝像機檢查之前已經使所述容器置于旋轉中并且在所述檢查的時刻所述容器已經制動。由此,使產品中的可能的異物顆粒置于運動中,所述異物顆粒不但可以以透射光而且可以以反射光更可靠地探測到。
在一種符合目的的擴展方案中設置,透射光的角度基本上為90°,和/或,反射光的角度位于25°至50°的范圍內。在這些角度范圍內,能夠實現:以不同的照明類型特別可靠地探測到異物顆粒。
特別優選地,容器接收部可相對于攝像機和/或反射器相對運動地構造。在一種符合目的的擴展方案中,設有至少一個另外的輪子用于將至少一個容器供給或者導出至容器接收部。因此,可以以高的速度執行檢查。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于星德科技術有限公司,未經星德科技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201780033822.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:表面檢查系統和檢查方法
- 下一篇:檢查裝置及生產管理方法





