[發(fā)明專利]剝離裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201780031889.1 | 申請日: | 2017-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN109155274B | 公開(公告)日: | 2023-02-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 柴原拓洋;中村智宣;瀬山耕平 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社新川 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;B65H41/00;H01L21/52 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 馬爽;臧建明 |
| 地址: | 日本東京武藏村山市伊奈平2丁*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 剝離 裝置 | ||
剝離裝置包括:筒夾,具備抵接面及吸附孔,所述抵接面與貼附在粘合構(gòu)件上的保護膜的表面呈面狀接觸,所述粘合構(gòu)件粘附在工件上,所述吸附孔設(shè)置在所述抵接面內(nèi),并且吸附所述保護膜;以及移動機構(gòu),使所述筒夾相對于所述工件移動;其中,通過在利用所述吸附孔吸附著保護膜的狀態(tài)下,使所述筒夾與所述工件分離,而從粘合構(gòu)件上剝離所述保護膜。因此,提供一種能夠更確實地從工件上剝離保護膜的剝離裝置。
技術(shù)領(lǐng)域
本說明書公開一種剝離裝置,從粘附在工件上的粘合構(gòu)件,剝離了保護所述粘合構(gòu)件的表面的保護膜。
背景技術(shù)
近年來,相應(yīng)于電池設(shè)備的高功能化及朝向可移動(mobile)用途的擴大,半導(dǎo)體元件等電子工件的微細化及高精度化得到發(fā)展。在這種情況下,工件表面的細微污染也會成為問題,因此近年來,存在利用保護膜對工件的表面進行保護,直到即將使用之前為止的情況。特別是當(dāng)在工件上粘附有粘合構(gòu)件,例如粘附有管芯粘附膜(Die Attach Film,DAF)時,利用保護膜來保護所述粘合構(gòu)件的表面。
例如,將半導(dǎo)體芯片(chip),在管芯接合(die bonding)工序中,經(jīng)由液狀環(huán)氧樹脂粘合劑等管芯貼附劑(die attach agent)粘合于引線框架(lead frame)或基板,來制造半導(dǎo)體裝置。但是,存在如下的問題:在可移動用等的芯片小的情況下,難以涂布適量的粘合劑,粘合劑會從芯片露出,或者在面向大容量用途的大芯片的情況下,則相反地,粘合劑量不足等而無法具有充分的粘合力。
為了解決所述問題,已提出如下的技術(shù):取代液狀管芯貼附劑,將作為管芯貼附劑(粘合劑)而發(fā)揮作用的粘合膜、即被稱為所謂管芯粘附膜(DAF)的粘合構(gòu)件,預(yù)先粘附在半導(dǎo)體芯片上。在所述DAF的表面上,為了保護粘合層,粘貼著保護膜,當(dāng)使用帶有DAF的半導(dǎo)體芯片時,剝下所述保護膜而使用。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
專利文獻1:日本專利特開2008-96530號公報
專利文獻2:日本專利特開2001-199624號公報
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的問題
作為保護膜的剝離方法,從前以來,廣泛采用使用膠帶的方法。例如,在專利文獻1中,已公開如下的技術(shù):通過使纏繞在滾筒(roller)上的膠帶與保護膜接觸之后,使膠帶從工件上分離,來剝離保護膜。但是,在使用這樣的膠帶的情況下,有可能對基板或工件造成污染。
在專利文獻2中,已公開一種不使用膠帶來剝離保護膜的技術(shù)。在專利文獻2中,是利用帶有吸附孔的輥(roll)吸附保護膜之后,使輥旋轉(zhuǎn),而從工件上剝離保護膜。但是,當(dāng)如專利文獻2所述,將剝離保護膜的構(gòu)件設(shè)為輥構(gòu)件時,所述輥構(gòu)件與保護膜只能呈線狀接觸。而且,當(dāng)使輥構(gòu)件與保護膜接觸時,為了防止吸附的泄漏,吸附孔不得不設(shè)為收納于線狀接觸部分的大小的小孔。其結(jié)果為,作為整個輥構(gòu)件的保護膜的保持力往往變小,從而存在無法適當(dāng)?shù)貏冸x保護膜的情況。
因此,在本說明書中,公開一種能夠從粘附在工件上的粘合構(gòu)件更確實地剝離保護膜的剝離裝置。
解決問題的手段
本說明書中所公開的剝離裝置是從粘附在工件上的粘合構(gòu)件,剝離了保護所述粘合構(gòu)件的表面的保護膜的剝離裝置,包括:筒夾(collet),具備與貼附在所述粘合構(gòu)件上的保護膜的表面呈面狀接觸的抵接面、及設(shè)置在所述抵接面之內(nèi)并且吸附所述保護膜的吸附孔;以及移動機構(gòu),使所述筒夾相對于所述工件移動;其中,通過在利用所述吸附孔吸附著保護膜的狀態(tài)下,使所述筒夾與所述工件分離,而從所述粘合構(gòu)件上剝離所述保護膜。
所述抵接面能夠以與所述抵接面的外側(cè)端部相比內(nèi)側(cè)端部更低的方式,在不產(chǎn)生所述吸附的泄漏的范圍內(nèi),相對于所述工件的表面傾斜。
并且,所述吸附孔可以吸附所述保護膜的一端邊附近。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社新川,未經(jīng)株式會社新川許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201780031889.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





