[發明專利]根據取向信息生成唯一碼

有效

• 申請號: 201780028643.9
• 申請日: 2017-03-07
• 公開（公告）號: CN109475327B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: O·高爾頓;J·霍奇
• 申請（專利權）人: 達斯特一致有限責任公司
• 主分類號: A61B5/11
• 分類號: A61B5/11
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

在一般方面，使用取向信息來生成唯一碼。在一些方面，從對象提取取向信息。對象包括多個元素，并且取向信息指示各個元素的相對空間取向。例如，可以通過用于檢測元素的掃描器系統提取取向信息。基于取向信息來針對對象生成唯一碼。在一些示例中，元素是各自具有一個或多個色心的金剛石顆粒，并且通過檢測色心來提取取向信息。

相關申請的交叉引用

本申請要求2016年3月8日提交的標題為“Methods and Systems forAuthenticating Objects Using Unique Markers”的美國臨時申請62/305,173的優先權，其通過引用而被包含于此。

背景技術

以下說明涉及根據取向信息生成唯一碼。

防偽技術、密碼協議和其它措施經常用于安全應用。防偽技術的示例包括全息圖、熒光染料或工程DNA鏈。密碼協議的示例包括認證方案(例如，數字簽名協議、挑戰-響應協議)和例如公鑰基礎設施(PKI)中的加密方案。

附圖說明

圖1A示出具有唯一認證標記的示例物品。

圖1B示意性示出圖1A的示例獨特標記物。

圖2A示意性示出包括金剛石晶體的示例顆粒，所述金剛石晶體包含缺陷中心。

圖2B示意性示出圖2A的示例金剛石晶格中的NV缺陷中心。

圖3示意性示出在獨特標記物中、主體材料中或上顆粒的示例隨機分布。

圖4示意性示出用于測量獨特標記物中的顆粒的位置和取向的示例掃描器系統。

圖5示出從熒光掃描獲得的示例圖像中的顆粒位置。

圖6示意性示出在獨特標記物中、主體材料中的示例顆粒取向。

圖7示出用于計算顆粒取向的示例顆粒參照系取向。

圖8示出諸如金剛石中的NV中心等的顆粒的示例磁共振響應。

圖9A和9B示意性示出示例磁掃描配置。

圖10示意性示出顆粒位置和取向的示例參數化。

圖11A和11B示出兩個示例顆粒位置和取向集合的比較。

圖12是示意性示出用于進行獨特標記物的起始點掃描的示例過程的流程圖。

圖13是示意性示出用于進行獨特標記物的目的地掃描的示例過程的流程圖。

圖14是示意性示出使用從對象提取的取向信息的示例過程的流程圖。

圖15是示意性示出用于生成對象的唯一碼的示例過程的流程圖。

圖16是示意性示出示例認證過程的流程圖。

圖17是示意性示出示例挑戰-響應過程的流程圖。

具體實施方式

這里所述的一些方面涉及基于取向信息生成唯一碼。例如，可以使用唯一碼來認證對象。例如，可以從標記物或另一對象提取取向信息。可以以與當前用于容易地標識對象的條形碼和快速響應(QR)碼類似的方式，使用唯一碼來認證對象。