[發明專利]平衡式磁場檢測裝置有效
| 申請號: | 201780015094.1 | 申請日: | 2017-02-09 |
| 公開(公告)號: | CN108780131B | 公開(公告)日: | 2021-02-09 |
| 發明(設計)人: | 川崎英明;高橋彰 | 申請(專利權)人: | 阿爾卑斯阿爾派株式會社 |
| 主分類號: | G01R33/09 | 分類號: | G01R33/09;G01R15/20;H01L43/08 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 王中葦 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 平衡 磁場 檢測 裝置 | ||
1.一種平衡式磁場檢測裝置,設置有:反饋線圈,其通過線圈導體呈平面地卷繞而形成;磁檢測部,其具有沿著所述線圈導體而形成為長條形狀的多根磁阻效應元件;線圈通電部,其根據所述磁檢測部檢測被測定磁場時的檢測輸出而將用于感應出抵消所述被測定磁場的朝向的磁場的電流賦予所述線圈導體;以及電流檢測部,其檢測在所述線圈導體中流動的電流量,
所述平衡式磁場檢測裝置的特征在于,
在一個所述磁檢測部中,多根所述磁阻效應元件平行地配置且被串聯連接,各根所述磁阻效應元件的檢測軸沿著相同的朝向設定,
多根構成相同的所述磁檢測部的所述磁阻效應元件與一根所述線圈導體對置,
所述線圈導體的截面形狀是高度方向上的尺寸比寬度方向上的尺寸短的長方形狀,所述磁阻效應元件與所述截面的沿著所述寬度方向延伸的長邊對置,
所述磁阻效應元件不從所述線圈導體向所述寬度方向突出。
2.根據權利要求1所述的平衡式磁場檢測裝置,其中,
所述磁阻效應元件與所述線圈導體的呈直線狀地延伸的部分對置。
3.根據權利要求1所述的平衡式磁場檢測裝置,其中,
在所述反饋線圈的對置檢測部,多根所述磁阻效應元件與一根所述線圈導體的對置面對置。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的平衡式磁場檢測裝置,其中,
所述平衡式磁場檢測裝置設置有磁屏蔽層,該磁屏蔽層使通往所述磁阻效應元件的被測定磁場衰減。
5.根據權利要求1至3中任一項所述的平衡式磁場檢測裝置,其中,
所述平衡式磁場檢測裝置設置有電流路徑,由所述電流路徑感應出的所述被測定磁場被賦予所述磁阻效應元件。
6.根據權利要求4所述的平衡式磁場檢測裝置,其中,
所述平衡式磁場檢測裝置設置有電流路徑,由所述電流路徑感應出的所述被測定磁場被賦予所述磁阻效應元件。
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