[發明專利]用于確定表面形狀偏差的方法、表面評估系統有效
| 申請號: | 201780008586.8 | 申請日: | 2017-03-16 |
| 公開(公告)號: | CN108603757B | 公開(公告)日: | 2020-06-16 |
| 發明(設計)人: | A·格思 | 申請(專利權)人: | 寶馬股份公司 |
| 主分類號: | G01B21/30 | 分類號: | G01B21/30;G01B5/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 李駿 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 確定 表面 形狀 偏差 方法 評估 系統 | ||
本發明涉及一種用于基于測得的實際表面區段的位于測量點延伸區段(M)中的測量點的垂直信息來確定真實實際表面的形狀偏差的方法,所述方法使用評估區段,它們相互錯開地設置并且整體上在測量點延伸區段(M)上延伸并且包括多次迭代,它們分別具有下述步驟:(a)對于每個評估區段的多個測量點中的每個測量點確定最大垂直距離,該最大垂直距離是每兩個測量點之間沿預定垂直方向的最大距離,(b)確定評估區段斜率,其是評估區段最低點和評估區段最高點之間的連接直線,在下一方法步驟中,將在多次迭代中為其相應評估區段分別確定的最大垂直距離和評估區段斜率的值對分配給極限標準。本發明還涉及表面評估系統和計算機程序產品。
技術領域
本發明涉及一種用于確定表面形狀偏差的方法、一種表面評估系統和一種計算機程序產品。
背景技術
本發明尤其可用于確定根據DIN 4760的、特別是一至四階的形狀偏差。優選本發明設置用于確定波紋度。
DE 102006015627 A1公開了一種借助傅里葉分析確定波紋度的方法。
發明內容
本發明的任務在于提供用于確定表面波紋度的方法、表面評估系統和計算機程序產品,其可簡單地實施并提供可靠結果。
此外,本發明的任務在于提供一種表面評估系統以及一種計算機程序產品,其可簡單地實現以實施本發明的方法并且提供可靠結果以確定表面波紋度。
所述任務通過一種用于基于測得的位于實際表面上的一個測量點組中的各測量點的垂直信息來評估真實實際表面的實際表面區段與目標表面區段的形狀偏差的方法解決。
按本發明的方法用于基于測得的位于實際表面上的一個測量點組中的各測量點的垂直信息來評估真實實際表面的實際表面區段的波紋度,所述測量點組位于實際表面區段的定義測量點位置的測量點延伸區段中。所述方法對于一個評估區段組合分別使用至少一次迭代,這些評估區段在實際表面區段中至少局部地分布在測量點組上或定義測量點位置的測量點延伸區段上并且相互錯開地設置并且整體上在測量點組或測量點延伸區段的至少一部分上延伸,其中,每次迭代包括下述步驟:
(a)對于每個評估區段的多個測量點中的每個測量點確定最大垂直距離,該最大垂直距離是每兩個測量點之間沿預定垂直方向的最大距離,其中,垂直方向橫向于測量點延伸區段延伸并且最大垂直距離分別出現在評估區段最低點和評估區段最高點之間;
(b)確定評估區段斜率,其基于最大垂直距離相對于在評估區段最低點和評估區段最高點之間在其到目標表面區段上的投影中的距離在評估區段最低點和評估區段最高點之間具有連接直線,該目標表面區段是實際表面區段的理想模型,
在下一方法步驟中,將在所述至少一次迭代中為其相應評估區段分別確定的、最大垂直距離和評估區段斜率的值對分配給極限標準。
根據一種按本發明的解決方案,該測量點組中的測量點排成一排,它們形成測量點線或測量軌跡,從而測量點延伸區段是測量軌跡或測量點線。因此,按本發明的方法可規定用于基于測得的實際表面區段的位于測量軌跡上的測量點的垂直信息來評估真實實際表面的實際表面區段的波紋度。據此,按本發明的方法的一種實施方式使用至少一次迭代,所述迭代分別具有測量軌跡或測量點線上的一個評估區段組合(Anordnung vonBewertungs-Abschnitten),這些評估區段沿測量點線相互錯開地設置并且整體上在測量軌跡長度的至少一部分上延伸。在此,所述方法包括至少一次迭代,所述迭代分別具有下述步驟:
(a)對于每個評估區段的多個測量點中的每個測量點確定最大垂直距離,該最大垂直距離是每兩個測量點之間沿預定垂直方向的最大距離,其中,垂直方向橫向于測量點線延伸,并且最大垂直距離分別出現在評估區段最低點和評估區段最高點之間;
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