[發(fā)明專利]用于在吸收制品轉(zhuǎn)換加工生產(chǎn)線上檢測(cè)基底中的孔的方法和設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201780008122.7
• 申請(qǐng)日: 2017-02-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108603846A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-09-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: S.M.巴爾加
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寶潔公司
• 主分類號(hào): G01N21/89
• 分類號(hào): G01N21/89;G01N21/894;G01N21/88
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 葛青;宋莉

本文的方法將偏振光用于檢測(cè)基底中的通孔。光源引導(dǎo)光穿過(guò)具有第一偏振軸線的第一偏振濾光器，其中偏振光從第一偏振濾光器行進(jìn)并且朝基底行進(jìn)。偏振光的取向在行進(jìn)穿過(guò)基底材料時(shí)被改變，并且被散射。然而，行進(jìn)穿過(guò)基底中的孔的偏振光保持未被散射。第二偏振濾光器接收遠(yuǎn)離基底行進(jìn)的未散射光和散射光。第二偏振濾光器包括成角度地偏離且不平行于第一偏振軸線的第二偏振軸線。因此，第二偏振濾光器阻擋未散射光的前進(jìn)，而散射光不被第二偏振濾光器阻擋。基于被從第二偏振濾光器行進(jìn)的光圍繞的未散射光的缺乏來(lái)檢測(cè)孔。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開(kāi)涉及用于制造一次性吸收制品的系統(tǒng)和方法，更具體地，本公開(kāi)涉及在吸收制品轉(zhuǎn)換加工生產(chǎn)線上用偏振光檢測(cè)基底中的通孔的系統(tǒng)和方法。

背景技術(shù)

可沿著裝配線，通過(guò)將部件添加到推進(jìn)的連續(xù)幅材材料上和否則通過(guò)對(duì)所述幅材材料進(jìn)行改造來(lái)裝配尿布和各種類型的其它吸收制品。例如，在一些工藝中，推進(jìn)的材料纖維網(wǎng)與其它推進(jìn)的材料纖維網(wǎng)相組合。在其它示例中，由推進(jìn)的幅材材料產(chǎn)生的各個(gè)部件與推進(jìn)的幅材材料相組合，繼而與其它推進(jìn)的幅材材料相組合。在將所期望的組成部件組裝好之后，對(duì)推進(jìn)的幅材和組成部件進(jìn)行最終刀切以將幅材分離成離散的尿布或其它吸收制品。然后也可對(duì)離散的尿布或吸收制品進(jìn)行折疊和封裝。

出于幅材控制和/或監(jiān)測(cè)的目的，在構(gòu)造吸收制品時(shí)，吸收制品轉(zhuǎn)換加工生產(chǎn)線可利用各種類型的傳感器技術(shù)來(lái)獲得與所述連續(xù)幅材相關(guān)的各種類型的檢測(cè)數(shù)據(jù)和與沿轉(zhuǎn)換加工生產(chǎn)線添加到所述幅材的離散部件相關(guān)的各種類型的檢測(cè)數(shù)據(jù)。示例性傳感器技術(shù)可包括視覺(jué)系統(tǒng)、光電傳感器、接近傳感器、激光器或超聲距離檢測(cè)器等。可將傳感器數(shù)據(jù)以各種方式傳達(dá)給控制器。繼而，控制器可被編程以接收傳感器數(shù)據(jù)并記錄和/或存儲(chǔ)此類數(shù)據(jù)，并且對(duì)制造過(guò)程進(jìn)行調(diào)整。

在一些制造過(guò)程中，鄰近轉(zhuǎn)換加工生產(chǎn)線布置照明光學(xué)系統(tǒng)和相機(jī)以便將與推進(jìn)的幅材和部件的表面形貌相關(guān)的數(shù)據(jù)傳達(dá)給控制器。在一些光學(xué)系統(tǒng)中，可使用光源來(lái)照明推進(jìn)的基底的表面，其中從基底反射的光由相機(jī)檢測(cè)。從光源發(fā)出的光也可被線性偏振化，使得相機(jī)可通過(guò)檢測(cè)從基底表面反射的偏振光和去偏振光來(lái)探明關(guān)于基底的表面特征部的信息。雖然依賴于對(duì)反射的偏振光的檢測(cè)的此類光學(xué)系統(tǒng)能夠檢測(cè)具有相對(duì)平滑表面的基底上的某些反常之處，但這些系統(tǒng)可能不能夠同樣用于具有相對(duì)粗糙表面的基底，諸如非織造布。此外，依賴于檢測(cè)從基底表面反射的偏振光的光學(xué)系統(tǒng)還可能不能夠很好地適用于檢測(cè)基底中的通孔，因?yàn)樵诔射J角時(shí)，由于基底的厚度或由褶皺或幅材震動(dòng)所引起的高度偏差，光將不能穿過(guò)孔；或者在成垂直角度時(shí)，出自此類系統(tǒng)的光將只是穿過(guò)孔而不是被反射，從而將孔與表面特征部混淆，所述表面科技部散射或吸收光，諸如粘結(jié)圖案、圖形、或不均勻的基重或顆粒。因此，一些用來(lái)檢測(cè)基底中的通孔的系統(tǒng)可被配置成照明基底的表面并且檢測(cè)穿過(guò)基底中的孔的光。因此，所述系統(tǒng)可依賴于對(duì)相對(duì)明亮的光的檢測(cè)，將其檢測(cè)為指示基底中的通孔。然而，此類系統(tǒng)可能難以檢測(cè)相對(duì)薄型和/或半透明材料中的通孔，因?yàn)樾羞M(jìn)穿過(guò)孔和基底的光均可顯得相對(duì)較明亮，從而難以分辯孔的存在、位置、和/或周邊。

因此，將有益的是，配置并利用如下光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，它們能夠檢測(cè)并跟蹤可以相對(duì)高生產(chǎn)速度推進(jìn)的連續(xù)基底或離散基底中的通孔的位置。

發(fā)明內(nèi)容

本公開(kāi)涉及用于用偏振光檢測(cè)基底中的通孔的方法和設(shè)備。如本文所述，光源引導(dǎo)光穿過(guò)具有第一偏振軸線的第一偏振濾光器，其中偏振光從第一偏振濾光器行進(jìn)，并且朝基底的第一表面行進(jìn)。繼而，行進(jìn)穿過(guò)基底材料的偏振光的取向發(fā)生改變，并且因此被散射。相比之下，行進(jìn)穿過(guò)基底中的孔的偏振光不接觸任何基底材料，并且因此保持未被散射。所述設(shè)備也包括第二偏振濾光器，其被定位成接收遠(yuǎn)離基底行進(jìn)的未散射光和散射光。第二偏振濾光器包括第二偏振軸線，其成角度地偏離且不平行于第一偏振濾光器的第一偏振軸線。因此，第二偏振濾光器阻擋一些或全部未散射光的前進(jìn)，而散射光行進(jìn)穿過(guò)第二偏振濾光器。被定位成接收從第二偏振濾光器行進(jìn)的光的傳感器基于未散射光的缺乏來(lái)檢測(cè)基底中的孔，所述未散射光被從第二偏振濾光器行進(jìn)的光圍繞。