[實用新型]一種用于測試IC芯片的COB板有效

申請號：	201721888009.6	申請日：	2017-12-29
公開（公告）號：	CN207601241U	公開（公告）日：	2018-07-10
發明（設計）人：	賈奎;梁慶云	申請（專利權）人：	深圳市創智芯科電子科技有限公司
主分類號：	G01R31/26	分類號：	G01R31/26
代理公司：	暫無信息	代理人：	暫無信息
地址：	518000 廣東省深圳市南***	國省代碼：	廣東;44
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摘要：
搜索關鍵詞：	上板控制器彈簧柱測試下板表面固定側面固定工作效率彈出
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【權利要求書】：

1.一種用于測試IC芯片的COB板，包括COB板(1)、上板(2)、下板(3)、IC芯片板(4)、IC芯片凹槽(5)、控制器(7)、彈簧柱(9)，其特征在于：所述COB板(1)上設有上板(2)，所述上板(2)的下方固定設有下板(3)，所述上板(2)的表面固定設有IC芯片板(4)，所述IC芯片板(4)的表面設有IC芯片凹槽(5)，所述IC芯片凹槽(5)通過IC芯片板(4)與上板(2)固定連接，所述上板(2)的側面固定設有控制器(7)，所述控制器(7)的下方彈性設有彈簧柱(9)。

2.根據權利要求1所述的一種用于測試IC芯片的COB板，其特征在于：所述上板(2)的表面固定設有固定鈕(6)。

3.根據權利要求1所述的一種用于測試IC芯片的COB板，其特征在于：所述控制器(7)的下方固定設有連接柱(8)。

4.根據權利要求1所述的一種用于測試IC芯片的COB板，其特征在于：所述下板(3)的末端固定設有底座(10)。

5.根據權利要求1所述的一種用于測試IC芯片的COB板，其特征在于：所述IC芯片凹槽(5)為多組設置。

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