[實(shí)用新型]基于反射光功率和圖像識別的拉曼光譜檢測設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721859012.5 | 申請日: | 2017-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN207779900U | 公開(公告)日: | 2018-08-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉海輝;王紅球;張建紅 | 申請(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 安輝 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 配置 成像裝置 光傳感器 拉曼光譜檢測 圖像 反射光功率 拉曼光譜儀 功率控制 激光照射 檢測設(shè)備 圖像識別 物體反射 激光器 控制器 拉曼光 種檢測 散射 激光 發(fā)射 檢測 申請 | ||
1.一種檢測設(shè)備,其特征在于,該檢測設(shè)備包括:
激光器,其配置成向待檢測的物體發(fā)射激光;
拉曼光譜儀,其配置成接收來自所述物體的拉曼光;
成像裝置,其配置成用于獲取所述物體的圖像;
光傳感器,其配置成用于接收因受激光照射而由所述物體反射和散射的光,并確定其所接收到的光的功率;和
控制器,其配置成基于所述成像裝置獲取的圖像以及所述光傳感器確定的功率控制所述檢測設(shè)備的操作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測設(shè)備,其中,所述控制器被進(jìn)一步配置為將光傳感器確定的所述功率與一閾值功率作比較,并根據(jù)光傳感器確定的功率與所述閾值功率的比較結(jié)果控制所述檢測設(shè)備的操作。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測設(shè)備,其中:
所述成像裝置被進(jìn)一步配置成在激光器發(fā)射激光之前獲取所述物體的圖像作為參考圖像,并在激光器發(fā)射激光進(jìn)行檢測的過程中實(shí)時(shí)地獲取所述物體的實(shí)時(shí)圖像;并且
所述控制器被進(jìn)一步配置成將所述參考圖像與所述實(shí)時(shí)圖像中的每一幀圖像作比較,并根據(jù)參考圖像與實(shí)時(shí)圖像中的每一幀圖像的比較結(jié)果控制所述檢測設(shè)備的操作。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測設(shè)備,其中:
所述成像裝置被進(jìn)一步配置成在激光器發(fā)射激光對所述物體進(jìn)行檢測的過程中實(shí)時(shí)地獲取所述物體的實(shí)時(shí)圖像;并且
所述控制器被進(jìn)一步配置成將所述實(shí)時(shí)圖像的第一幀圖像作為參考圖像與所述實(shí)時(shí)圖像中的其他幀圖像作比較,并根據(jù)實(shí)時(shí)圖像的第一幀圖像與其他幀圖像的比較結(jié)果控制所述檢測設(shè)備的操作。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的檢測設(shè)備,其中,所述檢測設(shè)備還包括報(bào)警裝置,并且所述控制器被進(jìn)一步配置為在指示檢測設(shè)備終止檢測的同時(shí)或之后指示所述報(bào)警裝置發(fā)送報(bào)警信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的檢測設(shè)備,其中,所述檢測設(shè)備還包括:
固定裝置,其配置為將所述物體的待檢測表面設(shè)置成與照射到該表面上的激光的方向垂直。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測設(shè)備,其中,所述固定裝置具有:
通光孔徑,激光器發(fā)射的激光穿過該通光孔徑照射到所述物體的待檢測表面;和
內(nèi)定位表面,其設(shè)置成與穿過所述通光孔徑的激光的方向垂直,并且所述物體的所述待檢測表面被設(shè)置成緊貼所述內(nèi)定位表面。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的檢測設(shè)備,其中,所述檢測設(shè)備還包括:
第一分光鏡,其設(shè)置在從所述物體到所述拉曼光譜儀的拉曼光光路中并且配置成將所述激光器發(fā)射的激光引導(dǎo)至所述物體并使得來自所述物體的拉曼光穿過該第一分光鏡傳輸至所述拉曼光譜儀。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測設(shè)備,其中,所述檢測設(shè)備還包括:
第二分光鏡,其設(shè)置在從所述物體到所述拉曼光譜儀的拉曼光光路中并且配置成反射可見光以使成像裝置對所述物體成像并允許所述激光器發(fā)射的激光和來自所述物體的拉曼光通過該第二分光鏡。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測設(shè)備,其中,所述檢測設(shè)備還包括:
第三分光鏡,其設(shè)置在從所述物體到所述拉曼光譜儀的拉曼光光路中的位于所述第一分光鏡和所述第二分光鏡的下游,并且所述第三分光鏡被配置成將由所述物體反射和散射并透過所述第一分光鏡和第二分光鏡的激光反射至所述光傳感器并使得來自所述物體的拉曼光穿過該第三分光鏡傳輸至所述拉曼光譜儀。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測設(shè)備,其中,所述檢測設(shè)備還包括以下光學(xué)部件中的至少一個(gè):
第一濾波片,其設(shè)置在所述拉曼光光路中的所述第三分光鏡的下游并且配置成用于濾除光信號中的瑞利光;
第二濾波片,其設(shè)置在所述激光器與所述第一分光鏡之間并配置成將所述激光器發(fā)出的激光限定在期望的波長段內(nèi);和
第三濾波片,其設(shè)置在所述成像裝置與所述第二分光鏡之間并且配置成用于濾除激光。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





