[實用新型]一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭有效
| 申請號： | 201721775694.1 | 申請日： | 2017-12-19 |
| 公開（公告）號： | CN207571022U | 公開（公告）日： | 2018-07-03 |
| 發明（設計）人： | 王動民;丁海泉;高洪智;于新洋;蘇建全 | 申請（專利權）人： | 廣東星創眾譜儀器有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/3563 | 分類號： | G01N21/3563;G01N21/359;G01N21/01 |
| 代理公司： | 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245 | 代理人： | 黃磊;陳宏升 |
| 地址： | 510700 廣東省廣*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 固體顆粒物 漫透射 出射窗 入射窗 探頭 本實用新型 入射光纖束 出射光線 發出裝置 入射光線 無損檢測 出射光 反射鏡 光譜 光纖 漫反射檢測 操作過程 改變方向 同一方向 樣品池 透射 導出 取樣 裝樣 傳導 檢測 | ||
1.一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：包括外殼、出射窗、入射窗、出射光線發出裝置、入射光纖束、第一反射鏡，其中出射窗、入射窗安裝在外殼的同一側且朝向同一方向，出射光線發出裝置將出射光傳導至出射窗進入到固體顆粒物，出射光經過固體顆粒物形成的漫透射光經入射窗進入即得到入射光線，入射光線經第一反射鏡改變方向進入到入射光纖束導出。
2.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述出射光線發出裝置包括第一光源、出射光纖束、第二反射鏡，其中出射光纖束將第一光源的光傳導至第二反射鏡，經第二反射鏡改變方向后經過出射窗進入到固體顆粒物中。
3.根據權利要求2所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述第二反射鏡為平面反射鏡或者長邊鍍有反射膜的實體直角棱鏡。
4.根據權利要求3所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述長邊鍍有反射膜的實體直角棱鏡與出射窗分體設置，或者與出射窗合并為一個實體棱鏡。
5.根據權利要求2所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述第一光源的光譜為600～1100nm，所述第一光源為鹵鎢燈或者光譜在600～1100nm范圍內連續分布的LED光源。
6.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述出射光線發出裝置包括第二光源，第二光源置于外殼中且正對著出射窗，第二光源發出的光直接經過出射窗進入到固體顆粒物中。
7.根據權利要求6所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述第二光源的光譜為600～1100nm，所述第二光源為鹵鎢燈或者光譜在600～1100nm范圍內連續分布的LED光源。
8.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述第一反射鏡為平面反射鏡或者長邊鍍有反射膜的實體直角棱鏡。
9.根據權利要求8所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述長邊鍍有反射膜的實體直角棱鏡與入射窗分體設置，或者與入射窗合并為一個實體棱鏡。
10.根據權利要求1所述一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的光纖漫透射式探頭，其特征在于：所述外殼的底部為細圓筒狀；所述出射窗與入射窗之間的間距為2cm～4cm。
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