[實用新型]X射線成像儀

有效

• 申請號: 201721738334.4
• 申請日: 2017-12-13
• 公開（公告）號: CN208808501U
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發明（設計）人: 王增斌;張國萬
• 申請（專利權）人: 北京量子體系科技股份有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;G01N23/04
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種X射線成像儀，其特征在于，包括：

X射線產生設備，用于產生X射線；

X射線分束設備，設置于所述X射線產生設備的出射光路上，用于將所述X射線分為第一部分和第二部分，其中所述第一部分的X射線作為探測光入射到待測物上；

X射線檢測設備，包括第一X射線檢測設備和第二X射線檢測設備，所述第一X射線檢測設備用于對經所述待測物透射的所述第一部分X射線進行探測，所述第二X射線檢測設備用于對未經過所述待測物的所述第二部分的X射線進行探測；

時間同步設備，連接所述X射線檢測設備，用于為所述第一X射線檢測設備和所述第二X射線檢測設備提供時間同步信號，以使得所述第一X射線檢測設備和所述第二X射線檢測設備分別輸出的信號在時間上同步；

信號處理設備，連接所述時間同步設備和所述X射線檢測設備，用于根據所述時間同步信號對所述第一X射線檢測設備和所述第二X射線檢測設備輸出的信號進行關聯處理，以解算出所述待測物的透射圖像。

2.根據權利要求1所述的X射線成像儀，其特征在于，所述第一X射線檢測設備的感光面積小于所述第二X射線檢測設備的感光面積。

3.根據權利要求2所述的X射線成像儀，其特征在于，所述X射線檢測設備進一步包括匯聚設備，所述匯聚設備用于將經所述待測物透射的所述第一部分X射線匯聚到所述第一X射線檢測設備。

4.根據權利要求2所述的X射線成像儀，其特征在于，所述第一X射線檢測設備為點探測器或線探測器。

5.根據權利要求4所述的X射線成像儀，其特征在于，所述第一X射線檢測設備為單光子探測器。

6.根據權利要求2所述的X射線成像儀，其特征在于，所述第二X射線檢測設備為面探測器。

7.根據權利要求1所述的X射線成像儀，其特征在于，所述X射線產生設備包括X射線球管和準直器，所述X射線球管用于控制所述X射線的強度，所述準直器用于對所述X射線進行準直。

8.根據權利要求1所述的X射線成像儀，其特征在于，所述信號處理設備在進行關聯處理之前，先對所述第一X射線檢測設備和所述第二X射線檢測設備輸出信號進行濾波和降噪處理。

9.根據權利要求1所述的X射線成像儀，其特征在于，所述X射線分束設備包括分束器，所述分束器用于將所述X射線按照預設的分光比進行分束成所述第一部分和所述第二部分。

10.根據權利要求1-9中任一項所述的X射線成像儀，其特征在于，所述X射線成像儀還包括顯示設備，所述顯示設備連接所述信號處理設備，用于顯示所述信號處理設備輸出的所述待測物的透射圖像。