[實用新型]透明材料缺陷檢測系統

有效

• 申請號: 201721698260.6
• 申請日: 2017-12-08
• 公開（公告）號: CN207779930U
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發明（設計）人: 劉應龍;吳旭;張玄;樊江寧;彭瑜;王高娟;馬中峰
• 申請（專利權）人: 湖南科創信息技術股份有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 長沙智嶸專利代理事務所 43211
• 代理人: 胡亮

本實用新型公開了一種透明材料缺陷檢測系統，該系統包括：至少一個檢測單元，包括成像裝置和組合光源，成像裝置用于對透明材料進行成像掃描；組合光源，用于提供多種照明模式；至少一個面鏡成像組件，用于對透明材料缺陷進行虛擬成像；傳送裝置，用于使得透明材料與檢測單元間產生相對移動；控制器，用于控制各種照明模式的分時切換及成像裝置的圖像采集；處理器，與控制器及至少一個成像裝置通信連接。其實現了對透明材料缺陷的多通道圖像采集，相較于現有的缺陷檢測系統，極大地豐富了圖像采集的信息量，提高了缺陷信息的準度和精度，提高了透明材料缺陷的檢出率和識別率，便于后續對產品缺陷的具體三維位置的分析及產品的缺陷種類分析。

技術領域

本實用新型涉及透明材料檢測領域，特別地，涉及一種透明材料缺陷檢測系統。

背景技術

在透明材料(如平板玻璃、無機玻璃、有機玻璃、亞克力等)生產過程中，質量控制是一個重要環節。目前，很多生產工藝沒有自動化檢測設備，靠人工檢測控制質量。但人工檢測缺陷的方法存在如下問題：如漏檢，誤檢等，對玻璃產出質量控制標準不一致，主觀因素多；不能實時得到所需質量數據，不便于質量數據的統計、查詢；檢出的效率低，自動化程度低，成本高。

現有技術中亦存在一些透明材料自動檢測設備，雖然檢測設備可檢測到透明材料的缺陷，但無法在線識別出缺陷所在透明材料內的三維相對位置，無法適用于表面粗糙、凹凸不平等異形透明材料，使用者無法獲得缺陷在透明材料的直觀分布，無法對非平板透明材料進行檢測。然而，缺陷在材料中的三維相對位置是指導分析缺陷成因、指導材料生產工藝的調整和材料成品分等分級的重要指標。為了對產品進行上述相關分析，往往需要離線取樣缺陷，然而離線分析透明材料的缺陷的三維相對位置導致其實時性差、反應速度慢，且大大影響生產作業效率及產品成品率。

為了從源頭上改善透明材料生產的質量問題，亟需設計一種新型的透明材料缺陷檢測系統，以滿足在線對透明材料的缺陷的三維相對位置的實時檢測。更進一步地，亟需提供一種適用于表面粗糙、凹凸不平等異形透明材料的檢測系統和方法。

實用新型內容

本實用新型提供了一種透明材料缺陷檢測系統，以解決現有的透明材料的缺陷檢測系統采集的圖像數據受限、無法滿足高精度缺陷檢測需求的技術問題。

本實用新型采用的技術方案如下：

根據本實用新型的一個方面，提供一種透明材料缺陷檢測系統，包括：

至少一個檢測單元，其包括成像裝置和組合光源，成像裝置用于對透明材料進行成像掃描；組合光源，用于給透明材料進行缺陷檢測時通過分時切換照明提供多種照明模式；

至少一個面鏡成像組件，用于與至少一個檢測單元配合，輔助至少一個成像裝置對透明材料進行聯合成像模式下的成像掃描；

傳送裝置，用于使得透明材料與檢測單元間產生相對移動；

控制器，用于控制組合光源照明模式的分時切換及至少一個成像裝置在相應照明模式下的圖像采集；

處理器，與控制器及至少一個成像裝置通信連接，用于生成控制指令給控制器并接收至少一個成像裝置生成的圖像數據。

進一步地，組合光源包括：反射亮光源、反射暗光源、透射亮光源、透射暗光源及遠射暗光源中的一種或者多種。

進一步地，成像裝置包括用于收集光信號并將光信號轉換為電信號的成像組件，成像組件為CCD線陣成像組件或者CMOS線陣成像組件或者其他線陣成像組件；

面鏡成像組件為低透光率鍍膜反光鏡。

進一步地，成像裝置的數量為多個，多個成像裝置設置于透明材料的上方和/或下方。