[實用新型]測試電路板

有效

• 申請號: 201721684184.3
• 申請日: 2017-12-05
• 公開（公告）號: CN207589270U
• 公開（公告）日: 2018-07-06
• 發明（設計）人: 吳森;陳麗琴;李艷國
• 申請（專利權）人: 廣州興森快捷電路科技有限公司;深圳市興森快捷電路科技股份有限公司;宜興硅谷電子科技有限公司
• 主分類號: H05K1/02
• 分類號: H05K1/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 陳思澤

1.一種測試電路板，其特征在于，包括電路板體，所述電路板體包括多層間隔設置的芯板，所述芯板包括靶標組，所述靶標組包括測試焊盤及至少四個設于所述芯板上的輔助測試孔，所述輔助測試孔為金屬化孔，所述輔助測試孔圍繞所述測試焊盤設置，不同所述芯板上的測試焊盤在所述電路板體的底面上的投影不重疊。

2.根據權利要求1所述的測試電路板，其特征在于，所述電路板體上開設有穿過所述測試焊盤的導通孔，所述電路板體的頂層、底層均為芯板，所述電路板體的頂層、底層上均設有與所述輔助測試孔對應設置的第一焊盤，所述電路板體的頂層、底層上均設有與所述導通孔對應設置的第二焊盤。

3.根據權利要求2所述的測試電路板，其特征在于，所述測試焊盤的環寬大于10mil。

4.根據權利要求2所述的測試電路板，其特征在于，所述第一焊盤的環寬小于或等于所述測試焊盤的環寬。

5.根據權利要求1所述的測試電路板，其特征在于，所述靶標組設于所述芯板的邊角處。

6.根據權利要求5所述的測試電路板，其特征在于，所述芯板為多邊形板，所述芯板的邊角處均設有所述靶標組。

7.根據權利要求1所述的測試電路板，其特征在于，同一個所述靶標組中，不同的所述輔助測試孔與所述測試焊盤之間的間隔均相等。

8.根據權利要求7所述的測試電路板，其特征在于，所述輔助測試孔沿周向均勻間隔設置。

9.根據權利要求1-8任一項所述的測試電路板，其特征在于，所述靶標組包括八個輔助測試孔。

10.根據權利要求1-8任一項所述的測試電路板，其特征在于，所述測試焊盤為圓形盤。