[實用新型]微波暗室及相應的天線測試系統有效
| 申請號: | 201721635890.9 | 申請日: | 2017-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN207502620U | 公開(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發明(設計)人: | 史文虎;楊寧;譚維耿 | 申請(專利權)人: | 上海英恒電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R29/10 | 分類號: | G01R29/10;G01R23/16;G01R1/04;G01S7/40 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王潔;鄭暄 |
| 地址: | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 輔助天線 天線 微波箱 天線測試系統 本實用新型 夾持機構 微波暗室 測量 毫米波頻段 測量過程 單一變量 節省空間 吸波材料 箱體內部 遠場測試 單一化 單一性 結構件 天線板 天線夾 可控 可用 保證 測試 覆蓋 | ||
本實用新型涉及一種微波暗室及相應的天線測試系統,包括微波箱、輔助天線部分和待測天線部分,且所述的輔助天線部分和待測天線部分均具有可保持變量單一化的夾持機構,且所述的輔助天線部分和所述的待測天線部分都設置于箱體內部,微波箱為一覆蓋有吸波材料的微波箱。本實用新型可用于遠場測試,針對毫米波頻段,由于其具有能夠保持變量的單一性的輔助天線夾持機構和待測天線夾持機構,可以保證待測天線和輔助天線在測量過程中變化的變量可控,最大程度的保證了測試的單一變量原則及待測天線、輔助天線的穩定。因此,可針對不同的天線板使用,十分方便快捷,且節省空間,同時測量精度更高,并可通過調整不同的結構件可以測量各種形狀的天線。
技術領域
本實用新型涉及微波領域,具體是指一種微波暗室及相應的天線測試系統。
背景技術
現在的毫米波雷達天線測試,普遍使用的是微波暗室,微波暗室又叫“無反射室”或“吸波室”,它是以吸波材料作襯里的房間,能吸收入射到6個壁上的大部分電磁能量,較好的模擬自由空間測試條件。
微波暗室主要用來測量電小天線及饋源,同時還能測量雷達截面、研究電磁波的繞射、輻射和散射特性等。由于微波暗室具有全天候、寬頻帶、屏蔽性能好、安全保密等有點,因而在近20年間得到了迅速發展。微波暗室除常規的遠場測量外,還包括近場測試和緊縮場測試。
然而,現有技術中構建微波暗室需要的場地較大,價格不菲,提出一種占用較小場地、易于拆卸、造價較低的微波暗室,是本領域亟待解決的問題。
實用新型內容
本實用新型的目的是克服了上述現有技術的缺點,提供一種占用較小場地、易于拆卸、造價較低的微波暗室及相應的天線測試系統。
為了實現上述目的,本實用新型的微波暗室及相應的天線測試系統具有如下構成:
該微波暗室,其主要特點是,包括微波箱、輔助天線部分和待測天線部分,且所述的輔助天線部分和待測天線部分均具有可保持變量單一化的夾持機構,且所述的輔助天線部分和所述的待測天線部分都設置于箱體內部,微波箱為一覆蓋有吸波材料的微波箱。
較佳地,所述的輔助天線部分的夾持機構包括底部的工業三腳架,其上設置有第一伺服電機轉臺,所述的第一伺服電機轉臺其上設置有俯仰夾持部。
更佳地,所述的輔助天線為一喇叭天線。
較佳地,所述的待測天線部分的夾持機構夾持待測天線,且所述的輔助天線部分的夾持機構包括設置于底部的XY位移臺,其上設置有伺服電機轉臺,且所述的伺服電機轉臺其上設置有俯仰角位移臺。
更佳地,所述的XY位移臺包括兩個在水平面上垂直設置的水平位移臺,且其中一個水平位移臺具有較長運動行程,另一水平位移臺具有較短運動行程,且所述的兩個水平位移臺的線性模組均使用重復定位精度為±0.02mm的精密級絲杠線性模組。
更佳地,所述的俯仰角位移臺為俯仰工作范圍為±10°的俯仰角位移臺,且所述的俯仰角位移臺上設置有丁字形結構。
較佳地,所述的微波箱的箱體為一鐵板箱體,其內側覆蓋有吸波材料,且所述的吸波材料包括直錐材料、地板走道材料、邊拐角材料和平板材料,其中,所述的箱體主墻面內側貼覆所述的直錐材料,各墻面相接處填充邊拐角材料,箱體底面靠近主墻面處鋪設有地板走道材料,且所述的微波箱在其長端一側設置有測試門。
基于上述所述的微波暗室所構成的天線測試系統,其主要特點是,所述的系統還包括一輔助天線和待測天線,該輔助天線安裝于所述的輔助天線部分,該待測天線安裝于待測天線部分,該天線測試系統還包括信號處理發生裝置,其兩端分別接所述的輔助天線和待測天線,控制所述的輔助天線發射參數已知的信號,并對待測天線接收到的信號進行分析保存。
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