[實用新型]微波暗室及相應的天線測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721635890.9
• 申請日: 2017-11-30
• 公開（公告）號: CN207502620U
• 公開（公告）日: 2018-06-15
• 發(fā)明（設計）人: 史文虎;楊寧;譚維耿
• 申請（專利權）人: 上海英恒電子有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R23/16;G01R1/04;G01S7/40
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 王潔;鄭暄

1.一種微波暗室，其特征在于，包括微波箱、輔助天線部分和待測天線部分，且所述的輔助天線部分和待測天線部分均具有可保持變量單一化的夾持機構，且所述的輔助天線部分和所述的待測天線部分都設置于箱體內部，微波箱為一覆蓋有吸波材料的微波箱。

2.根據(jù)權利要求1所述的微波暗室，其特征在于，所述的輔助天線部分的夾持機構包括底部的工業(yè)三腳架，其上設置有第一伺服電機轉臺，所述的第一伺服電機轉臺其上設置有俯仰夾持部。

3.根據(jù)權利要求2所述的微波暗室，其特征在于，所述的輔助天線為一喇叭天線。

4.根據(jù)權利要求1所述的微波暗室，其特征在于，所述的待測天線部分的夾持機構夾持待測天線，且所述的輔助天線部分的夾持機構包括設置于底部的XY位移臺，其上設置有伺服電機轉臺，且所述的伺服電機轉臺其上設置有俯仰角位移臺。

5.根據(jù)權利要求4所述的微波暗室，其特征在于，所述的XY位移臺包括兩個在水平面上垂直設置的水平位移臺，且其中一個水平位移臺具有較長運動行程，另一水平位移臺具有較短運動行程，且所述的兩個水平位移臺的線性模組均使用重復定位精度為±0.02mm的精密級絲杠線性模組。

6.根據(jù)權利要求4所述的微波暗室，其特征在于，所述的俯仰角位移臺為俯仰工作范圍為±10°的俯仰角位移臺，且所述的俯仰角位移臺上設置有丁字形結構。

7.根據(jù)權利要求1所述的微波暗室，其特征在于，所述的微波箱的箱體為一鐵板箱體，其內側覆蓋有吸波材料，且所述的吸波材料包括直錐材料、地板走道材料、邊拐角材料和平板材料，其中，所述的箱體主墻面內側貼覆所述的直錐材料，各墻面相接處填充邊拐角材料，箱體底面靠近主墻面處鋪設有地板走道材料，且所述的微波箱在其長端一側設置有測試門。

8.一種基于權利要求1至7中任一項所述的微波暗室所構成的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)還包括一輔助天線和待測天線，該輔助天線安裝于所述的輔助天線部分，該待測天線安裝于待測天線部分，該天線測試系統(tǒng)還包括信號處理發(fā)生裝置，其兩端分別接所述的輔助天線和待測天線。

9.根據(jù)權利要求8所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)還包括一轉臺控制器，連接至待測天線部分的夾持機構；

所述的信號處理發(fā)生裝置包括信號源、頻譜分析儀、主控計算機和低噪聲放大器，其中，所述的信號源接輔助天線，所述的頻譜分析儀通過低噪聲放大器接待測天線，所述的主控計算機分別連接信號源、轉臺控制器和頻譜分析儀。

10.根據(jù)權利要求8所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的系統(tǒng)還包括一轉臺控制器，連接至待測天線部分的夾持機構；

所述的信號處理發(fā)生裝置包括矢量網(wǎng)絡分析儀、主控計算機和低噪聲放大器，其中，所述的矢量網(wǎng)絡分析儀的輸出端連接輔助天線，所述的矢量網(wǎng)絡分析儀的輸入端通過低噪聲放大器接待測天線，所述的主控計算機分別連接矢量網(wǎng)絡分析儀和轉臺控制器。