[實(shí)用新型]一種分選機(jī)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721627965.9 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207517650U | 公開(公告)日: | 2018-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杜鵬;魯高照;邱智中;蔡吉明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽三安光電有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/673;H01L21/687 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 241000 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分選機(jī) 異常晶粒 分選 真空收集裝置 半導(dǎo)體設(shè)備 本實(shí)用新型 晶粒 生產(chǎn)效率 正常晶粒 挑揀 | ||
1.一種分選機(jī),用于分選置于粘性膜上的晶粒,至少包括,固定粘性膜的中空載盤、掃描晶粒以判斷晶粒是否異常的掃描裝置、將晶粒從粘性膜上頂出的頂針模組以及控制裝置,其特征在于:
所述載盤可升降并且豎直設(shè)置;
與所述載盤相對(duì)設(shè)置有通過氣流吸附晶粒的吸氣裝置;
所述掃描裝置位于吸氣裝置與載盤的中間的上方,于所述掃描裝置下方設(shè)置有反光件,掃描裝置通過反光件掃描載盤上的晶粒;
于所述載盤和吸氣裝置下方設(shè)置收集異常晶粒的真空收集裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述真空收集裝置包括回收槽、收集瓶、抽真空裝置,以及連接回收槽、收集瓶和抽真空裝置的真空管路,異常晶粒在抽真空裝置的真空氣流作用下從回收槽進(jìn)入收集瓶?jī)?nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述真空收集裝置呈“U”型,收集瓶安裝于底端,回收槽和抽真空裝置位于兩端。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述收集瓶可拆卸地安裝于真空收集裝置的底端。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述收集瓶外周設(shè)置有判定收集瓶是否裝滿的限位感應(yīng)器。
6.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述回收槽為便于收集晶粒的漏斗狀,所述回收槽的開口直徑大于吸氣裝置和晶粒載盤之間的距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述頂針模組包括單個(gè)頂針或者復(fù)數(shù)個(gè)頂針。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述頂針的數(shù)目大于等于2。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述反光件為反光鏡。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分選機(jī),其特征在于:所述掃描裝置為CCD。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





