[實(shí)用新型]一種影像測量儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721606074.5
• 申請日: 2017-11-27
• 公開（公告）號: CN207622689U
• 公開（公告）日: 2018-07-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃志良;張松濤
• 申請（專利權(quán)）人: 珠海市怡信測量科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

1.一種影像測量儀，其特征在于：它包括基座（1）、設(shè)置在所述基座（1）上端的XY工作臺（2）及設(shè)置在所述XY工作臺（2）上方的Z軸測量裝置（3），所述Z軸測量裝置（3）包括Z軸平臺（31）、設(shè)置在所述Z軸平臺（31）上并與所述Z軸平臺（31）滑動配合的Z軸滑塊（32）、設(shè)置在所述Z軸平臺（31）上端的滑塊傳動模塊（33）、設(shè)置在所述Z軸滑塊（32）上端的影像測量模塊（34）及測頭測量模塊（35），所述測頭測量模塊（35）位于所述影像測量模塊（34）的一側(cè)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述影像測量模塊（34）包括鏡頭支架（341）、設(shè)置在所述鏡頭支架（341）上方的CCD攝像頭（342）設(shè)置在所述CCD攝像頭（342）下方的顯微鏡（343）及設(shè)置在所述顯微鏡（343）下端的照明光源（344），所述鏡頭支架（341）與所述Z軸滑塊（32）固定連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述測頭測量模塊（35）包括測頭支架（351）及設(shè)置在所述測頭支架（351）下端的測頭（352），所述測頭支架（351）位于所述影像測量模塊（34）的一側(cè)，并與所述鏡頭支架（341）固定連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述XY工作臺（2）包括底座（21）、與所述底座（21）滑動配合的X軸移動平臺（22）及與所述X軸移動平臺（22）滑動配合的Y軸移動平臺（23），所述X軸移動平臺（22）的前后兩側(cè)分別設(shè)置有X軸傳動模塊（24）和X軸電子尺（25），所述Y軸移動平臺（23）的左右兩側(cè)分別設(shè)置有Y軸傳動模塊（26）和Y軸電子尺（27）。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述X軸傳動模塊（24）上端設(shè)置有X軸馬達(dá)蓋板（24a），所述Y軸傳動模塊（26）上端設(shè)置有Y軸馬達(dá)蓋板（26a），所述X軸電子尺（25）上端設(shè)置有X軸電子尺蓋板（25a），所述Y軸電子尺（27）上端設(shè)置有Y軸電子尺蓋板（27a）。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述滑塊傳動模塊（33）、所述X軸傳動模塊（24）及所述Y軸傳動模塊（26）均包括驅(qū)動馬達(dá)、絲桿及絲桿固定座，所述驅(qū)動馬達(dá)與所述絲桿相連接，所述絲桿鉸接在所述絲桿固定座上。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述基座（1）放置在測量桌（4）上，所述測量桌（4）的下端設(shè)置有MCU控制模塊（5）及電控模塊（6），所述MCU控制模塊（5）與所述電控模塊（6）電性連接，所述XY工作臺（2）、所述影像測量模塊（34）及所述測頭測量模塊（35）均與所述MCU控制模塊（5）電性連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種影像測量儀，其特征在于：它還包括與所述MCU控制模塊（5）電性連接的顯示屏（7），所述顯示屏（7）通過支架（8）鉸接在所述基座（1）的一側(cè)。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述MCU控制模塊（5）還連接有數(shù)據(jù)輸入模塊（9），所述數(shù)據(jù)輸入模塊（9）放置在所述測量桌（4）上。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種影像測量儀，其特征在于：所述基座（1）由大理石制作而成，它包括底板（11）及設(shè)置在所述底板（11）上端的立柱（12），所述立柱（12）的前面設(shè)置有前保護(hù)罩（13），背面設(shè)置有后保護(hù)罩（14），所述Z軸測量裝置（3）設(shè)置在所述前保護(hù)罩（13）內(nèi)，所述后保護(hù)罩（14）內(nèi)設(shè)置有控制電路板、馬達(dá)驅(qū)動器。