[實(shí)用新型]一種滾針影像檢測(cè)機(jī)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721401121.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-10-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207502411U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙洪建 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 昆山銘馳自動(dòng)化科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 蘇州周智專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32312 | 代理人: | 周雅卿 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 滾針 載盤 檢測(cè) 透光 上料機(jī)構(gòu) 本實(shí)用新型 第一傳感器 控制系統(tǒng) 下料機(jī)構(gòu) 影像檢測(cè) 勞動(dòng)成本 驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu) 電連接 上表面 下表面 對(duì)滾 轉(zhuǎn)動(dòng) 側(cè)面 驅(qū)動(dòng) 雙手 監(jiān)測(cè) 上游 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種滾針影像檢測(cè)機(jī),包括旋轉(zhuǎn)透光載盤,旋轉(zhuǎn)透光載盤連接有驅(qū)動(dòng)其轉(zhuǎn)動(dòng)的載盤驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),沿旋轉(zhuǎn)透光載盤的周向依次設(shè)有上料機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和下料機(jī)構(gòu),上料機(jī)構(gòu)連接旋轉(zhuǎn)透光載盤,檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括滾針上表面檢測(cè)機(jī)構(gòu)、滾針側(cè)面檢測(cè)機(jī)構(gòu)和滾針下表面檢測(cè)機(jī)構(gòu),上料機(jī)構(gòu)的下游且檢測(cè)機(jī)構(gòu)的上游之間還設(shè)有監(jiān)測(cè)滾針進(jìn)入檢測(cè)軌跡的第一傳感器,還設(shè)有控制系統(tǒng),第一傳感器、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和下料機(jī)構(gòu)皆與控制系統(tǒng)電連接。本實(shí)用新型能自動(dòng)對(duì)滾針進(jìn)行檢測(cè),降低了勞動(dòng)成本,大大解放了工作人員的雙手,而且檢測(cè)精度高,能實(shí)現(xiàn)對(duì)于滾針的外表面進(jìn)行全方位的檢測(cè),檢測(cè)效率快,檢測(cè)一個(gè)滾針?biāo)璧臅r(shí)間短,降低了企業(yè)的檢測(cè)成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及軸承關(guān)鍵零部件檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種滾針影像檢測(cè)機(jī)。
背景技術(shù)
滾針
目前市面上對(duì)于滾針軸承的滾針檢測(cè)主要是檢測(cè)滾針表面是否有劃痕和銹,通常是人工檢測(cè),人工檢測(cè)不僅檢測(cè)速度慢,而且長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)容易出現(xiàn)疲勞導(dǎo)致檢測(cè)精度降低,工人的勞動(dòng)強(qiáng)度大,長(zhǎng)時(shí)間用眼導(dǎo)致工人的視力下降,而且檢測(cè)效果不理想,這大大增加了檢測(cè)成本。
為了克服上述缺點(diǎn),本領(lǐng)域技術(shù)人員積極創(chuàng)新研究,以期創(chuàng)設(shè)出一種新型的滾針影像檢測(cè)機(jī)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型主要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供了一種滾針影像檢測(cè)機(jī),能自動(dòng)對(duì)滾針進(jìn)行檢測(cè),降低了勞動(dòng)成本,大大解放了工作人員的雙手,而且檢測(cè)精度高,能實(shí)現(xiàn)對(duì)于滾針的外表面進(jìn)行全方位的檢測(cè),檢測(cè)效率快,檢測(cè)一個(gè)滾針?biāo)璧臅r(shí)間短,降低了企業(yè)的檢測(cè)成本。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種滾針影像檢測(cè)機(jī),包括旋轉(zhuǎn)透光載盤,所述旋轉(zhuǎn)透光載盤連接有驅(qū)動(dòng)其轉(zhuǎn)動(dòng)的載盤驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),沿所述旋轉(zhuǎn)透光載盤的周向依次設(shè)有上料機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和下料機(jī)構(gòu),所述上料機(jī)構(gòu)連接所述旋轉(zhuǎn)透光載盤,所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括滾針上表面檢測(cè)機(jī)構(gòu)、滾針側(cè)面檢測(cè)機(jī)構(gòu)和滾針下表面檢測(cè)機(jī)構(gòu),所述上料機(jī)構(gòu)的下游且所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)的上游之間還設(shè)有監(jiān)測(cè)滾針進(jìn)入檢測(cè)軌跡的第一傳感器,還設(shè)有控制系統(tǒng),所述第一傳感器、所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)和所述下料機(jī)構(gòu)皆與所述控制系統(tǒng)電連接。
進(jìn)一步地說(shuō),所述滾針上表面檢測(cè)機(jī)構(gòu)位于所述上料機(jī)構(gòu)的下游,所述滾針側(cè)面檢測(cè)機(jī)構(gòu)位于所述滾針上表面測(cè)試機(jī)構(gòu)的下游,所述滾針下表面檢測(cè)機(jī)構(gòu)位于所述滾針側(cè)面檢測(cè)機(jī)構(gòu)的下游,所述下料機(jī)構(gòu)位于所述滾針下表面檢測(cè)機(jī)構(gòu)的下游。
進(jìn)一步地說(shuō),所述上料機(jī)構(gòu)包括物料分度盤、定位分度盤、定位傳感器、電機(jī)和運(yùn)送槽,所述運(yùn)送槽位于所述旋轉(zhuǎn)透光載盤的上表面且位于所述物料分度盤的邊緣,所述運(yùn)送槽為弧形,所述物料分度盤和所述定位分度盤分度相同且固定于同一轉(zhuǎn)軸,所述電機(jī)和所述轉(zhuǎn)軸通過(guò)皮帶輪連接,所述定位傳感器位于所述定位分度盤處,所述物料分度盤的外邊緣按分度均勻設(shè)有若干個(gè)滾針槽,每個(gè)所述滾針槽皆為直徑大于滾針的半圓弧形。
進(jìn)一步地說(shuō),所述滾針上表面檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括第一攝像機(jī)、第一環(huán)形光源和第一背光源,所述第一背光源位于所述旋轉(zhuǎn)透光載盤的下方,所述第一環(huán)形光源位于所述旋轉(zhuǎn)透光載盤的上方,所述第一環(huán)形光源與所述第一背光源的位置相對(duì)應(yīng),所述第一環(huán)形光源的正上方設(shè)有所述第一攝像機(jī)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于昆山銘馳自動(dòng)化科技有限公司,未經(jīng)昆山銘馳自動(dòng)化科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201721401121.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種金屬貼紙檢測(cè)裝置
- 下一篇:一種屏幕檢測(cè)裝置
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





