[實用新型]一種分選裝置

有效

• 申請號: 201721298241.4
• 申請日: 2017-10-10
• 公開（公告）號: CN207343266U
• 公開（公告）日: 2018-05-11
• 發明（設計）人: 姜兵兵;沈蓓穎;沈思情;劉浦鋒;宋洪偉;陳猛
• 申請（專利權）人: 上海超硅半導體有限公司
• 主分類號: B07B13/04
• 分類號: B07B13/04
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本實用新型公開了一種分選裝置，屬于晶片尺寸檢測技術領域，為解決現有技術效率低等問題而設計。本實用新型分選裝置包括從上至下依次設置的至少兩個分選單元，每個分選單元均具有分選空隙；沿從上至下的方向各個分選單元的分選空隙的一側對齊或中心對齊，且沿從上至下的方向各個分選空隙的橫向尺寸依次遞減；被分選的產品從上至下跌落時，分選空隙用于供被分選的產品穿過或用于阻攔被分選的產品以對被分選的產品進行尺寸分級。本實用新型分選裝置結構簡單，分選效率高，且能降低人工誤判及手誤的概率。

技術領域

本實用新型涉及晶片尺寸檢測技術領域，尤其涉及一種分選裝置。

背景技術

藍寶石襯底已經成為了當前LED襯底晶片的首選。隨著藍寶石襯底加工技術的日趨成熟，LED的出光光效不斷提高(增亮一般超過30％以上)。與此同時，市場對于藍寶石平片襯底的表面要求也越來越嚴苛，

但是，藍寶石生產時，若藍寶石晶片的倒角存在崩邊，殘存的藍寶石碎渣在拋光的過程中掉落會造成晶片拋光面的劃傷，因此，在規模化和大批量的藍寶石襯底片的生產當中，為了保證晶片拋光后表面的品質，在拋光前的倒角工藝也就顯得尤為重要。

為避免上述崩邊問題，人們會在藍寶石晶片倒角之前進行直徑的精細分類，將直徑一致的分到一起選用對應的倒角程序，能有效保證晶片倒角的品質。目前，行業的通行做法是采用人工測試及分選的方法。即，人工用卡尺對每一片進行測量然后分類。以2英尺藍寶石晶片為例：將(50.8±0.1)mm的晶片分為4類，即0.05mm分為一檔，通過實例操作，熟練員工每100片晶片的測試及分選時間大概在800秒左右，費時費力，且容易出現分選時的判斷失誤及手誤。

實用新型內容

本實用新型提供了一種分選效率高、且可降低人工誤判及手誤的概率的分選裝置。

為達此目的，本實用新型采用以下技術方案：

一種分選裝置，包括從上至下依次設置的至少兩個分選單元，每個所述分選單元均具有分選空隙；沿從上至下的方向各個所述分選單元的所述分選空隙的一側對齊或中心對齊，且沿從上至下的方向各個所述分選空隙的橫向尺寸依次遞減；被分選的產品從上至下跌落時，所述分選空隙用于供被分選的產品穿過或用于阻攔被分選的產品以對被分選的產品進行尺寸分級。

進一步地，每個所述分選單元分別包括第一分選件和第二分選件，所述第一分選件與所述第二分選件間形成所述分選空隙，所述第二分選件能夠相對于所述第一分選件運動以調節所述分選空隙的橫向尺寸。

進一步地，沿從上至下的方向，所有所述第一分選件對齊。

進一步地，所述分選裝置還包括主體，各個所述分選單元均設置于所述主體上。

進一步地，所述第二分選件通過螺釘連接于主體上；和/或，所述第一分選件通過螺釘連接于所述主體上。

進一步地，所述主體上設置有通槽，所述通槽的數量與所述分選單元的數量相同，所述主體的背部設置有第二容納槽，所述第二分選件部分穿設于與其對應的所述通槽中，各個所述第二分選件的前端與所述第一分選件間形成所述分選間隙，所述第二分選件的后端容納于所述第二容納槽中且通過第二連接件與所述第二容納槽連接，當所述第二連接件松開時，所述第二分選件能相對所述第一分選件運動。

進一步地，所述第一分選件部分穿設于與其對應的所述通槽中且位于所述通槽的一端，所述主體的背部設置有第一容納槽，所述第一分選件的后端容納于所述第一容納槽中且通過第一連接件與所述第一容納槽可拆卸連接。

進一步地，所述第一分選件和所述第二分選件伸出于主體前側的部分的長度均大于被分選產品的半徑。

進一步地，所述通槽的長度≥80mm。

進一步地，所述分選裝置為藍寶石晶片分選裝置；和/或，所述分選單元的數量為3至7個。