[實用新型]一種新型防爆膜壓痕凹凸點快速檢驗治具

有效

• 申請號: 201721196862.1
• 申請日: 2017-09-19
• 公開（公告）號: CN207133186U
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發明（設計）人: 李國民
• 申請（專利權）人: 廈門普誠科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/17
• 代理公司: 廈門市精誠新創知識產權代理有限公司35218
• 代理人: 方惠春

1.一種新型防爆膜壓痕凹凸點快速檢驗治具，其特征在于：包括檢測箱和光源箱，所述檢測箱內設有一檢測臺，所述檢測箱上還開設有一對應該檢測臺的入光口，所述光源箱內設有出射平行單色光的平行單色光源組件，所述光源箱上開設有對應該平行單色光源組件的出射光的出光口，所述光源箱的出光口與檢測箱的入光口相對應，進而使得平行單色光源組件的出射光直射于檢測臺上。

2.根據權利要求1所述的新型防爆膜壓痕凹凸點快速檢驗治具，其特征在于：所述平行單色光源組件包括單色光源、凹透鏡及凹面鏡，所述單色光源發出單色光射至凹透鏡上，并通過凹透鏡折射形成擴散光，經凹透鏡折射形成的擴散光射至凹面鏡上，并通過該凹面鏡反射形成平行光，并從光源箱上的出光口射出。

3.根據權利要求2所述的新型防爆膜壓痕凹凸點快速檢驗治具，其特征在于：所述單色光源為短波單色光源。

4.根據權利要求1所述的新型防爆膜壓痕凹凸點快速檢驗治具，其特征在于：所述光源箱與檢測箱之間形成不透光的密閉連接。