[實用新型]一種主軸回轉誤差實驗平臺

有效

• 申請號: 201721138304.X
• 申請日: 2017-09-06
• 公開（公告）號: CN207366184U
• 公開（公告）日: 2018-05-15
• 發明（設計）人: 陳野;趙相松;張大衛;胡高峰
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01M13/00
• 分類號: G01M13/00
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 杜文茹

一種主軸回轉誤差實驗平臺，工作臺上由前至后依次設置有位移傳感器支架固定座、光電傳感器支架、第一固定支架和第二固定支架，第一固定支架和第二固定支架分別支撐待測主軸的前部和后部，待測主軸的前端通過待測主軸的端鍵固定設置有主軸刀柄，主軸刀柄位于光電傳感器支架一側，且主軸刀柄的前端插入有檢驗棒，光電傳感器支架上對應主軸刀柄設置有用于獲取主軸刀柄轉速信息的光電傳感器，位移傳感器支架固定座上對應檢驗棒固定設置有用于支撐和調整位移傳感器位置的位移傳感器支架組件，用于獲取檢驗棒位移狀態信息的位移傳感器位于檢驗棒的上方。本實用新型利用高性能的模塊化硬件實現全方位的系統集成，完成主軸回轉誤差與檢驗棒的圓度誤差分離研究。

技術領域

本實用新型涉及一種實驗平臺。特別是涉及一種主軸回轉誤差實驗平臺。

背景技術

隨著現代制造業的不斷發展，機床作為具有高科技含量的現代化“工作母機”，是實現制造技術和裝備制造業現代化的重要基礎裝備，其質量、性能和擁有量是衡量一個國家工業現代化水平、綜合國力的重要標志，因此在國民經濟現代化的建設中起著重大作用。主軸單元是現代金屬切削機床的重要組成部分，機床制造領域中對高速高精度主軸的性能要求越來越高。由于主軸的回轉精度是影響機床加工的幾何精度和表面光潔度的重要因素之一，因此對主軸的回轉精度的分析和研究顯得尤為重要。

由于主軸的回轉軸心不可見，只能通過對裝夾在主軸的標準球或者檢驗棒的測量來間接地測得主軸軸心的運動，因此標準球或者檢驗棒的圓度誤差不可避免的混入到主軸的回轉誤差中。當混入的圓度誤差不可忽略時，就要采用有效的辦法進行誤差分離，以便得到準確的回轉精度值。常用的誤差分離方法有反轉法、多點法和多步法等。反轉法需要兩次測量，第二次測量要將檢驗棒和位移傳感器繞著旋轉軸線旋轉180°重新安裝，重新安裝會帶來安裝誤差，會使分離結果不準確。多點法是同時采用多個位移傳感器同時測量多組數據，將所測的多組數據進行綜合處理，進行誤差分離，但是傳感器之間的角度要是選擇的不合理，會產生諧波抑制，同樣會影響到分離的精度。目前實際應用中，大多數的測試裝置智能針對一種誤差分離方法，通用性不強。加工固定角度的傳感器支架不利于不同角度的分離結果的研究。因此需要一種可以實施多種誤差分離方法的主軸回轉誤差實驗平臺有著重大的意義。

發明內容

本實用新型所要解決的技術問題是，提供一種利用高性能的模塊化硬件實現全方位的系統集成的主軸回轉誤差實驗平臺。

本實用新型所采用的技術方案是：一種主軸回轉誤差實驗平臺，包括工作臺，所述工作臺上由前至后依次設置有位移傳感器支架固定座、光電傳感器支架、第一固定支架和第二固定支架，所述第一固定支架和第二固定支架分別支撐待測主軸的前部和后部，所述待測主軸的前端通過待測主軸的端鍵固定設置有主軸刀柄，所述主軸刀柄位于所述的光電傳感器支架一側，且主軸刀柄的前端插入有檢驗棒，所述光電傳感器支架上對應所述主軸刀柄設置有用于獲取主軸刀柄轉速信息的光電傳感器，所述位移傳感器支架固定座上對應檢驗棒固定設置有用于支撐和調整位移傳感器位置的位移傳感器支架組件，用于獲取檢驗棒位移狀態信息的位移傳感器位于檢驗棒的上方。

所述的第一固定支架和第二固定支架結構相同，均包括有：上面形成有用于嵌入和支撐所述待測主軸的半圓形凹槽的下固定支架以及位于所述待測主軸上面的倒U形結構的上固定支架，所述下固定支架的底座通過螺栓固定在所述工作臺上，所述上固定支架開口端的兩個端與所述下固定支架開口端的兩個端通過銷軸鉸接連接，還設置有位于待測主軸和上固定支架之間的V型塊，所述V型塊卡套在所述待測主軸的上面，所述上固定支架的頂端形成有上下貫通的螺孔，所述上固定支架的頂端通過螺孔上下貫穿的螺紋連接有鎖緊螺桿，所述鎖緊螺桿通過旋轉頂在所述V型塊的頂端而使待測主軸固定在所述下固定支架的凹槽上。

所述工作臺上用于固定下固定支架底座的螺孔是沿工作臺長度方向形成的，從而使下固定支架為能夠前后調整的固定在所述工作臺上。