[實(shí)用新型]一種元件性能檢測(cè)工裝有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721124321.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207717809U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王淑敏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門(mén)標(biāo)遠(yuǎn)精密五金工業(yè)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 張清彥 |
| 地址: | 361000 福建省廈門(mén)*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 元件安裝 測(cè)試端 性能檢測(cè) 輸入端 工裝 元器件 排線 電子生產(chǎn)設(shè)備 本實(shí)用新型 輸出端連接 測(cè)試 測(cè)試效率 輸出端 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種元件性能檢測(cè)工裝,涉及電子生產(chǎn)設(shè)備領(lǐng)域,包括一元件安裝平臺(tái),在所述元件安裝平臺(tái)上設(shè)置有多個(gè)元件安裝位,在所述元件安裝位的兩側(cè)分別設(shè)置有測(cè)試端,所述兩側(cè)的測(cè)試端通過(guò)排線分別連接至輸入端和輸出端。采用上述技術(shù)方案,由于在一個(gè)平臺(tái)上設(shè)置有多個(gè)元件安裝位,可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)元器件,并且通過(guò)排線將多個(gè)元件安裝位的測(cè)試端連接再一起,通過(guò)單一的輸入端和輸出端連接既可以完成測(cè)試,提升了元器件的測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電子生產(chǎn)設(shè)備領(lǐng)域,特別涉及一種元件性能檢測(cè)工裝。
背景技術(shù)
元器件生產(chǎn)出來(lái)之后需要進(jìn)行檢測(cè),現(xiàn)有技術(shù)中,通常采用人工抽檢的方式對(duì)元器件進(jìn)行單個(gè)檢測(cè),檢測(cè)效率低,檢測(cè)誤差率高,現(xiàn)在有一些生產(chǎn)設(shè)備通過(guò)能夠?qū)υ骷M(jìn)行自動(dòng)檢測(cè),但是這種檢測(cè)方式都是獨(dú)立檢測(cè),檢測(cè)效率仍然得不到顯著的提升。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種元件性能檢測(cè)工裝,解決現(xiàn)有技術(shù)中元件檢測(cè)效率低的技術(shù)問(wèn)題。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:
一種元件性能檢測(cè)工裝,包括一元件安裝平臺(tái),在所述元件安裝平臺(tái)上設(shè)置有多個(gè)元件安裝位,在所述元件安裝位的兩側(cè)分別設(shè)置有測(cè)試端,所述兩側(cè)的測(cè)試端通過(guò)排線分別連接至輸入端和輸出端。
其中,所述元件安裝位一側(cè)的引腳測(cè)試端分別為引腳1測(cè)試端、引腳2測(cè)試端、引腳3測(cè)試端和引腳4測(cè)試端,所述元件安裝位另一側(cè)的引腳測(cè)試端分別為引腳8測(cè)試端、引腳7測(cè)試端、引腳6測(cè)試端和引腳5測(cè)試端。
其中,在每個(gè)所述元件安裝位測(cè)試位與所述輸入端連接的排線上設(shè)置有通斷控制開(kāi)關(guān)。
其中,所述元件安裝平臺(tái)包括基板,并且在所述基板上設(shè)置有PCB板,所述測(cè)試端、所述排線、所述輸入端和所述輸出端都設(shè)置在所述PCB板上。
具體的,所述基板為銅板。
其中,所述元件安裝位的引腳位置設(shè)置有用于固定元件不產(chǎn)生位移的凹槽。
其中,所述元件安裝位的數(shù)量為12個(gè)。
其中,在所述元件安裝平臺(tái)的底部設(shè)置有墊塊。
具體的,所述墊塊的數(shù)量為4個(gè),分別設(shè)置在所述元件安裝平臺(tái)的四個(gè)角上。
采用上述技術(shù)方案,由于在一個(gè)平臺(tái)上設(shè)置有多個(gè)元件安裝位,可以同時(shí)測(cè)試多個(gè)元器件,并且通過(guò)排線將多個(gè)元件安裝位的測(cè)試端連接再一起,通過(guò)單一的輸入端和輸出端連接既可以完成測(cè)試,提升了元器件的測(cè)試效率。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型元件性能檢測(cè)工裝的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中,1-元件安裝平臺(tái),2-元件安裝位,3-排線,4-輸入端,5-通斷控制開(kāi)關(guān),6-輸出端,7-支撐塊。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步說(shuō)明。在此需要說(shuō)明的是,對(duì)于這些實(shí)施方式的說(shuō)明用于幫助理解本實(shí)用新型,但并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的限定。此外,下面所描述的本實(shí)用新型各個(gè)實(shí)施方式中所涉及的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廈門(mén)標(biāo)遠(yuǎn)精密五金工業(yè)有限公司,未經(jīng)廈門(mén)標(biāo)遠(yuǎn)精密五金工業(yè)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201721124321.8/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過(guò)負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 端對(duì)端測(cè)試和診斷管理系統(tǒng)
- 跨終端測(cè)試方法、待測(cè)試端及測(cè)試端
- 測(cè)試方法、測(cè)試發(fā)起端、被測(cè)試端和測(cè)試系統(tǒng)
- 檢測(cè)背光調(diào)節(jié)的方法、測(cè)試端、被測(cè)試端
- 電池端測(cè)試裝置
- 一種接口端測(cè)試組件及接口端測(cè)試裝置
- 一種接口端測(cè)試組件及接口端測(cè)試裝置
- 測(cè)試方法、測(cè)試客戶端以及測(cè)試系統(tǒng)
- 移動(dòng)APP功耗測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)及采集端、測(cè)試端
- 網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量測(cè)試方法、調(diào)度服務(wù)端、測(cè)試端及存儲(chǔ)介質(zhì)





