[實用新型]一種自動老化測試裝置

有效

• 申請號: 201721032159.7
• 申請日: 2017-08-17
• 公開（公告）號: CN207215963U
• 公開（公告）日: 2018-04-10
• 發明（設計）人: 王宏宇;郭曉霞;謝威;王兵;柯賢軍;蘇君海;李建華
• 申請（專利權）人: 信利（惠州）智能顯示有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司44102
• 代理人: 陳衛,禹小明

技術領域

本實用新型涉及電子顯示器件技術領域，尤其涉及一種自動老化測試裝置。

背景技術

OLED(Organic Light Emitting Diode，即有機發光二極管，目前被廣泛應用于移動設備上，OLED 具有成本低、全固態、主動發光、亮度高、對比度高、視角寬、響應速度快、厚度薄、低電壓直流驅動、功耗低、工作溫度范圍寬、可實現軟屏顯示等優點，但是在OLED生產過程中，常常會遇到許多問題和挑戰，特別是關于試驗線制備出OLED器件后需要做老化測試的技術關鍵點，現有的老化測試架通常是單一的正負極搭接，驗證TOP發光器件時，將器件出光方向朝下，被架子底部遮蓋，無法觀測像素出光效果，且導線是手動搭接到電源上，經常出現不穩定性，同時也需要工作人員耗費大量時間不停的手動切換開關以及調節電壓，由于人為手動性太大以及導線經常拔插轉換的緣故，時間久了就會出現短路以及老化架松動等跡象，且當工作人員稍不注意時，也會造成老化工藝不可彌補的損失。

實用新型內容

針對上述技術問題，本實用新型提供了一種能夠觀測到TOP發光器件和BOTTOM發光器件的出光效果、無需人工進行線路連接、使用方便體積小的自動老化測試裝置。

為了解決上述技術問題，本實用新型提供的具體方案如下：一種自動老化測試裝置，包括老化測試架、與老化測試架電連接的控制器以及顯示測試過程和測試結果的顯示器，還包括安裝老化測試架的柜體，所述老化測試架為抽拉式設計。

優選的，所述老化測試架的上表面設有上架框、下表面設有下架框，通過上架框和下架框將被測器件固定在老化測試架上。

優選的，所述老化測試架的下表面和上架框上設有彈性接觸點PIN，實現對TOP發光器件和BOTTOM發光器件兩種類型的老化工藝調整。

優選的，所述老化測試架的上表面和下表面均設有彈性接觸點PIN，實現對TOP發光器件或BOTTOM發光器件的老化工藝調整，提高測試效率。

優選的，所述上架框和下架框上均設有彈性接觸點PIN，實現對TOP發光器件或BOTTOM發光器件的老化工藝調整，提高測試效率。

優選的，所述老化測試架上設有固定上架框和下架框的固定件，防止上架框和下架框脫落，保證測試工作的正常進行。

優選的，所述老化測試架上還設有把手，便于工作人員將老化測試架拉開觀測TOP發光器件和BOTTOM發光器件的出光效果。

優選的，所述老化測試架的數量為至少兩個，所述老化測試架通過導線連接在一起，可統一控制也可獨立控制，根據實際需求進行調整，靈活性強。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果在于：在同一個老化測試架上完成對TOP發光器件和BOTTOM發光器件的老化工藝調整，方便OLED器件點亮后的HD、LD、LK等缺陷的觀測、也能利用手持式CS150測試亮度以及CIE，且線路固定，無需人工進行導線連接，經濟實用，體積小，擺放方便；老化測試架的數量為至少兩個，可根據實際需求進行調整，且可對老化測試架進行統一控制或獨立控制，使用靈活性強。

附圖說明

圖1為本實用新型的整體結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例二的老化測試架結構示意圖；

圖3為本實用新型實施例三的老化測試架結構示意圖；

其中，1為老化測試架；2為柜體；3為上架框；4為下架框；5為彈性接觸點PIN；6為把手。

具體實施方式

為了使本領域的技術人員很好的理解本實用新型的技術方案，下面結合附圖對本實用新型的技術方案做進一步的闡述。

實施例一：如圖1所示，一種自動老化測試裝置，包括老化測試架、與老化測試架電連接控制器以及顯示測試過程和測試結果的顯示器，還包括安裝老化測試架的柜體，所述老化測試架為可抽拉式設計，本實施例中被測物為OLED器件，在測試開始時，可通過控制器控制老化測試架所要完成的老化工藝調整，無需在老化測試架上進行線路的切換，控制器與老化測試架通過導線連接，在進行測試時，只需將制備出的OLED器件放置在老化測試架上即可，省去傳統老化測試夾具需要手動接線的過程，提高工作效率，通過顯示器可查看被測OLED器件的測試結果，實現自動化。