[實用新型]一種帶校驗比例尺的系統標準塊

有效

• 申請號: 201721009064.3
• 申請日: 2017-08-14
• 公開（公告）號: CN207050674U
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 馬俊安
• 申請（專利權）人: 閱美測量系統（上海）有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種帶校驗比例尺的系統標準塊，其特征在于，包括塊體，所述塊體包括基座，所述基座的中部由上而下分別設有具有一定間隙的玻璃面板和玻璃背板，所述玻璃面板、所述玻璃背板分別與基座的頂面、底面齊平，所述玻璃面板的表面中心分布有顆粒群，所述顆粒群包括矩形顆粒群和位于所述矩形顆粒群內的環形顆粒群，所述矩形顆粒群的兩條相鄰側邊上分別設有X軸校驗比例尺和Y軸校驗比例尺，所述玻璃背板為白色，所述基座為矩形體，所述基座的兩個相鄰邊角上設有防滑柱。

2.如權利要求1所述帶校驗比例尺的系統標準塊，其特征在于，所述玻璃面板為圓形，所述玻璃背板為正方形。

3.如權利要求2所述帶校驗比例尺的系統標準塊，其特征在于，所述玻璃背板的四個邊角處分別設有凸柱。

4.如權利要求1所述帶校驗比例尺的系統標準塊，其特征在于，所述塊體為鋁合金制成。