[實(shí)用新型]一種高速光電耦合器通用測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720936000.1
• 申請(qǐng)日: 2017-07-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN206945862U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-01-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙帥;喬秀銘;梁宇飛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 航天科工防御技術(shù)研究試驗(yàn)中心
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司11403
• 代理人: 朱親林

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域，特別是指一種高速光電耦合器通用測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

當(dāng)前隨著科學(xué)的發(fā)展，各種測(cè)試系統(tǒng)的功能越來(lái)越強(qiáng)大、全面。但是也給小部件的測(cè)試尤其是模塊化的測(cè)試帶來(lái)了問(wèn)題，例如對(duì)于一個(gè)功能全面的測(cè)試系統(tǒng)，基于普遍性與通用性，測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)置成可以與不同器件連接的方式，雖然使得不同器件均能實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試目的，但是每次測(cè)試不同器件時(shí)，均需要逐個(gè)管腳依次與測(cè)試系統(tǒng)連接，不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且容易出現(xiàn)人工誤差，導(dǎo)致測(cè)試的失誤。因此在實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下缺陷：對(duì)于器件的功能測(cè)試尤其是光電耦合器測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性不高。

實(shí)用新型內(nèi)容

有鑒于此，本實(shí)用新型的目的在于提出一種高速光電耦合器通用測(cè)試裝置，在利用現(xiàn)有測(cè)試裝置的基礎(chǔ)上，提高光電耦合器的測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。

基于上述目的本實(shí)用新型提供的一種高速光電耦合器通用測(cè)試裝置，包括：測(cè)試插座、測(cè)試電路板以及集成電路測(cè)試系統(tǒng)：所述測(cè)試插座通過(guò)測(cè)試電路板與集成電路測(cè)試系統(tǒng)連接，且待測(cè)試的光電耦合器與測(cè)試插座連接；其中，所述測(cè)試電路板一側(cè)設(shè)置有與集成電路測(cè)試系統(tǒng)匹配的接口，另一側(cè)設(shè)置有與測(cè)試插座匹配的接口；所述測(cè)試插座一端與測(cè)試電路板連接，另一端設(shè)置有與待測(cè)試的光電耦合器的管腳或接口匹配的接口；

所述待測(cè)試的光電耦合器通過(guò)測(cè)試插座和測(cè)試電路板與集成電路測(cè)試系統(tǒng)中的相應(yīng)測(cè)試接口連接，完成光電耦合器的測(cè)試。

可選的，所述測(cè)試電路板中設(shè)置有多組與測(cè)試插座匹配的接口組。

可選的，所述測(cè)試插座中設(shè)置有扳手結(jié)構(gòu)和銅片；其中，所述扳手結(jié)構(gòu)用于通過(guò)按壓銅片進(jìn)而控制器件管腳與測(cè)試插座的連接強(qiáng)度。

可選的，還包括轉(zhuǎn)接插座；所述測(cè)試電路板通過(guò)所述轉(zhuǎn)接插座與集成電路測(cè)試系統(tǒng)連接。

可選的，所述測(cè)試插座中設(shè)置有與待測(cè)光電耦合器對(duì)應(yīng)的凹槽結(jié)構(gòu)，用于對(duì)待測(cè)光電耦合器進(jìn)行定位和保護(hù)。

可選的，所述測(cè)試電路板中還設(shè)置有校驗(yàn)電路結(jié)構(gòu)，用于接收同一待測(cè)光電耦合器的管腳信號(hào)并連接到集成電路測(cè)試系統(tǒng)的不同單元中，同時(shí)實(shí)現(xiàn)待測(cè)光電耦合器的監(jiān)測(cè)和校驗(yàn)。

可選的，所述測(cè)試電路板和/或所述測(cè)試插座的接口設(shè)置為彈性鎖緊結(jié)構(gòu)，其中，所述彈性鎖緊結(jié)構(gòu)為在接口位置相應(yīng)設(shè)置有彈性結(jié)構(gòu)，用于使得插入接口中的管腳或者插頭固定鎖緊。

可選的，所述集成電路測(cè)試系統(tǒng)為AMIDA 3KS測(cè)試系統(tǒng)。

從上面所述可以看出，本實(shí)用新型提供的高速光電耦合器通用測(cè)試裝置通過(guò)在測(cè)試電路板上設(shè)計(jì)與集成電路測(cè)試系統(tǒng)配合的接口將集成電路測(cè)試系統(tǒng)的接口轉(zhuǎn)化為在測(cè)試電路板上對(duì)應(yīng)預(yù)定待測(cè)目標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)接口，通過(guò)測(cè)試插座將不同型號(hào)大小的待測(cè)光電耦合器的連接轉(zhuǎn)化為測(cè)試插座與測(cè)試電路板對(duì)應(yīng)的插接式接口，使得針對(duì)于不同型號(hào)大小的待測(cè)光電耦合器的測(cè)試能夠通過(guò)測(cè)試電路板與測(cè)試插座的配合實(shí)現(xiàn)快速連接，進(jìn)而提高待測(cè)光電耦合器的測(cè)試效率，尤其是進(jìn)行批量測(cè)試時(shí)，只需要預(yù)先將測(cè)試電路板與集成電路測(cè)試系統(tǒng)連接，然后就可以根據(jù)需要將待測(cè)光電耦合器插入匹配的測(cè)試插座中，然后通過(guò)測(cè)試插座插接到測(cè)試電路板，實(shí)現(xiàn)與集成電路測(cè)試系統(tǒng)的連接。同時(shí)，基于所述測(cè)試電路板和測(cè)試插座將待測(cè)光電耦合器與集成電路測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試連接轉(zhuǎn)化為標(biāo)準(zhǔn)的插口或者管腳的連接，避免了人工將管腳與集成電路測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)的連線連接，降低測(cè)試過(guò)程中的人工誤差。因此，本申請(qǐng)所述的高速光電耦合器通用測(cè)試裝置能夠在利用現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上，提高光電耦合器的測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型提供的高速光電耦合器通用測(cè)試裝置的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型提供的測(cè)試電路板對(duì)應(yīng)的電路框圖；

圖3為本實(shí)用新型提供的測(cè)試插座的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合具體實(shí)施例，并參照附圖，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。

需要說(shuō)明的是，本實(shí)用新型實(shí)施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是為了區(qū)分兩個(gè)相同名稱非相同的實(shí)體或者非相同的參量，可見(jiàn)“第一”“第二”僅為了表述的方便，不應(yīng)理解為對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例的限定，后續(xù)實(shí)施例對(duì)此不再一一說(shuō)明。