[實用新型]一種半導體晶片的檢測裝置

有效

• 申請號: 201720832523.1
• 申請日: 2017-07-10
• 公開（公告）號: CN206905725U
• 公開（公告）日: 2018-01-19
• 發明（設計）人: 向軍
• 申請（專利權）人: 江蘇新智達新能源設備有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08;H01L21/66
• 代理公司: 常州市權航專利代理有限公司32280
• 代理人: 袁興隆

1.一種半導體晶片的檢測裝置，包括外殼（1），其特征在于：所述外殼（1）內壁的底部固定連接有驅動電機（2），所述驅動電機（2）的左側固定連接有功率調節器（3），所述外殼（1）內壁的背面活動連接有主動輪（4），所述主動輪（4）的正面固定連接有傳動軸（5），所述傳動軸（5）的表面設置有傳動帶（6），所述驅動電機（2）的輸出端通過傳動帶（6）與傳動軸（5）傳動連接，所述外殼（1）內壁的背面且位于主動輪（4）的左側活動連接有從動輪（7），所述從動輪（7）的表面設置有傳送帶（8），所述主動輪（4）通過傳送帶（8）與從動輪（7）傳動連接，所述傳送帶（8）的頂部活動連接有晶片本體（9），所述傳送帶（8）的頂部且位于晶片本體（9）的右側固定連接有反射板（10），所述外殼（1）的頂部固定連接有紅外線測距儀（11），所述外殼（1）內壁的底部且位于驅動電機（2）的左側固定連接有處理器（12），所述外殼（1）內壁的底部且位于處理器（12）的左側固定連接有厚度檢測器（13），所述外殼（1）內壁的底部且位于厚度檢測器（13）的左側固定連接有語音提示器（14），所述外殼（1）內壁的底部且位于語音提示器（14）的左側固定連接有揚聲器（15），所述紅外線測距儀（11）的輸出端與厚度檢測器（13）的輸入端單向電性連接，所述厚度檢測器（13）的輸出端與處理器（12）的輸入端單向電性連接，所述處理器（12）的輸出端分別與功率調節器（3）和語音提示器（14）的輸入端單向電性連接，所述功率調節器（3）的輸出端與驅動電機（2）的輸入端單向電性連接，所述語音提示器（14）的輸出端與揚聲器（15）的輸入端單向電性連接。

2.根據權利要求1所述的一種半導體晶片的檢測裝置，其特征在于：所述外殼（1）的左側且對應揚聲器（15）的位置固定連接有揚聲器蓋板（16）。

3.根據權利要求1所述的一種半導體晶片的檢測裝置，其特征在于：所述紅外線測距儀（11）的背面固定連接有固定架（17），所述固定架（17）固定連接在外殼（1）的頂部且位于傳送帶（8）的背面，所述傳送帶（8）的表面且對應晶片本體（9）和反射板（10）的位置均開設有限位槽（18）。

4.根據權利要求1所述的一種半導體晶片的檢測裝置，其特征在于：所述外殼（1）內壁的底部且位于處理器（12）的右側固定連接有存儲器（19），所述存儲器（19）的輸入端與處理器（12）的輸出端單向電性連接。

5.根據權利要求1所述的一種半導體晶片的檢測裝置，其特征在于：所述外殼（1）的右側固定連接有顯示屏（20），所述外殼（1）的右側且位于顯示屏（20）的底部固定連接有控制按鈕（21），所述顯示屏（20）的輸入端與處理器（12）的輸出端單向電性連接，所述控制按鈕（21）的輸出端與處理器（12）的輸入端單向電性連接。