[實(shí)用新型]一種磁阻法測(cè)厚儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720809880.6
• 申請(qǐng)日: 2017-07-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207050659U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-02-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝潔填;郝星星;劉泓希
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中設(shè)（深圳）設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01B7/06
• 分類號(hào): G01B7/06
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種厚度檢測(cè)設(shè)備，更具體地說(shuō)，它涉及一種磁阻法測(cè)厚儀。

背景技術(shù)

磁阻法測(cè)厚儀是一種用電池供電的便攜式測(cè)量?jī)x器，可快速無(wú)損地測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計(jì)功能，可直接顯示測(cè)量次數(shù)、平均值、最大值及最小值。

目前，授權(quán)公告號(hào)為CN205120028U的中國(guó)專利公開(kāi)了一種涂層測(cè)厚儀，它包括封裝有主控MCU的殼體、電源模塊、與主控MCU電性連接的第一探頭、存儲(chǔ)模塊，第一探頭設(shè)有第一線圈，線圈在高頻交流電的作用下產(chǎn)生交變電磁場(chǎng)，當(dāng)?shù)谝惶筋^與涂層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生渦流并對(duì)第一探頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，第一探頭將線圈受到的反饋信號(hào)傳送給主控MCU，主控MCU根據(jù)第一探頭傳來(lái)的數(shù)據(jù)計(jì)算出涂層的厚度并在LCD顯示屏上顯示。

這種涂層測(cè)厚儀雖然利用了涂層厚度不同導(dǎo)致磁阻大小不同來(lái)測(cè)量涂層厚度，但在實(shí)際測(cè)量時(shí)，若是探頭未完全罩在涂層上，金屬機(jī)體產(chǎn)生的渦流不能夠充分進(jìn)入探頭內(nèi)被線圈反饋，則對(duì)檢測(cè)精度的影響較大，因此具有改進(jìn)的空間。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種磁阻法測(cè)厚儀，有助于使探頭位置放置準(zhǔn)確進(jìn)而檢測(cè)更加精確的優(yōu)點(diǎn)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案：

一種磁阻法測(cè)厚儀，包括殼體，所述殼體上設(shè)有具有檢測(cè)線圈的探頭，所述探頭內(nèi)設(shè)有用于檢測(cè)探頭內(nèi)光線強(qiáng)弱以輸出光強(qiáng)檢測(cè)信號(hào)的光強(qiáng)檢測(cè)電路，所述光強(qiáng)檢測(cè)電路電性連接有比較光強(qiáng)檢測(cè)信號(hào)小于光強(qiáng)基準(zhǔn)信號(hào)以輸出蓋合信號(hào)的比較電路，還包括用于輸出不斷變化高低電平的振蕩電路，所述振蕩電路以及比較單路共同電性連接有將蓋合信號(hào)與振蕩信號(hào)相與后輸出開(kāi)關(guān)信號(hào)的與門電路，所述與門電路電性連接有響應(yīng)于開(kāi)關(guān)信號(hào)導(dǎo)通以控制檢測(cè)線圈開(kāi)始檢測(cè)的開(kāi)關(guān)電路。

采用上述技術(shù)方案，在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，探頭放置在涂層上，光強(qiáng)檢測(cè)電路檢測(cè)探頭內(nèi)光線強(qiáng)度并且輸出與光線強(qiáng)弱對(duì)應(yīng)的檢測(cè)信號(hào)，當(dāng)探頭完全罩住涂層時(shí)，無(wú)光線進(jìn)入探頭內(nèi)被光強(qiáng)檢測(cè)電路檢測(cè)到，此時(shí)光強(qiáng)檢測(cè)電路輸出的光強(qiáng)檢測(cè)信號(hào)小于比較電路具有的光強(qiáng)基準(zhǔn)信號(hào)，比較電路輸出代表探頭已經(jīng)放置好的蓋合信號(hào)，同時(shí)振蕩電路輸出震蕩信號(hào)，當(dāng)與門電路同時(shí)接收到高電平的振蕩信號(hào)與蓋合信號(hào)時(shí)，與門電路輸出開(kāi)關(guān)信號(hào)控制開(kāi)關(guān)電路導(dǎo)通給檢測(cè)電路供電，進(jìn)而進(jìn)行一次檢測(cè)，當(dāng)振蕩電路變?yōu)榈碗娖綍r(shí)，與門電路相與后輸出低電平，開(kāi)關(guān)電路斷開(kāi)，檢測(cè)線圈停止檢測(cè)，隨著振蕩信號(hào)的不斷變換，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了測(cè)厚儀的多次不斷檢測(cè)，可供計(jì)算均值，有助于提高檢測(cè)精度；另一方面，僅僅在探頭位置放置準(zhǔn)確的情況下才進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)精確。

優(yōu)選的，所述光強(qiáng)檢測(cè)電路包括感光三極管VT以及保護(hù)電阻R3，其中感光三極管VT的集電極連接于電源VCC，感光三極管VT的發(fā)射極串聯(lián)保護(hù)電阻R3后接地，感光三極管VT與保護(hù)電阻之間的節(jié)點(diǎn)電壓為輸出的光強(qiáng)檢測(cè)信號(hào)。

優(yōu)選的，所述比較電路包括用于提供光強(qiáng)基準(zhǔn)信號(hào)的基準(zhǔn)電路以及用于比較光強(qiáng)檢測(cè)信號(hào)小于光強(qiáng)基準(zhǔn)信號(hào)以輸出蓋合信號(hào)的電壓比較器電路。

優(yōu)選的，所述基準(zhǔn)電路包括電阻R2以及電阻R4，所述電壓比較器電路包括比較器芯片U，其中電阻R2的一端連接于電源VCC，電阻R2的另一端連接于比較器芯片U的同項(xiàng)輸入端，電阻R2的另一端同時(shí)串聯(lián)電阻R4后接地，比較器芯片U的反相輸入端電性連接于光強(qiáng)檢測(cè)電路以接收光強(qiáng)檢測(cè)信號(hào)，比較器芯片U的輸出端輸出蓋合信號(hào)。

優(yōu)選的，所述振蕩電路為多諧振蕩器電路。

優(yōu)選的，所述開(kāi)關(guān)電路包括響應(yīng)于蓋合信號(hào)導(dǎo)通的三極管開(kāi)關(guān)電路以及受控于三極管開(kāi)關(guān)電路的導(dǎo)通以給檢測(cè)線圈供電工作的繼電器開(kāi)關(guān)電路。

優(yōu)選的，所述三極管開(kāi)關(guān)電路包括PNP型的三極管VT1以及電阻R5，所述繼電器開(kāi)關(guān)電路包括常開(kāi)式繼電器KM1以及續(xù)流二極管D1，其中三極管VT1的基極連接于比較電路以接收蓋合信號(hào)，三極管VT1的基極同時(shí)串聯(lián)電阻R5后連接于電源VCC，三極管VT1的集電極連接于電源VCC，三極管VT1的發(fā)射極串聯(lián)繼電器KM1后接地，三極管VT1的發(fā)射極同時(shí)連接于續(xù)流二極管D1的陽(yáng)極，續(xù)流二極管D1的陰極接地，繼電器KM1的觸頭開(kāi)關(guān)串聯(lián)在檢測(cè)線圈的供電電路中。

優(yōu)選的，所述繼電器開(kāi)關(guān)電路還電性連接有用于顯示檢測(cè)線圈正在進(jìn)行檢測(cè)的指示部。

優(yōu)選的，所述指示部為發(fā)光二極管。

綜上所述，本實(shí)用新型具有以下有益效果：