[實用新型]一種EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置

有效

• 申請號: 201720723746.4
• 申請日: 2017-06-21
• 公開（公告）號: CN207036994U
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發明（設計）人: 董海濤
• 申請（專利權）人: 蘇州工業園區海的機電科技有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及電子測量技術領域，具體涉及交流耦合信號的耦合電容測量，尤其涉及一種EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置。

背景技術

現有技術中，LCD屏測試設備發出交流耦合EDP/VBYONE信號傳輸至LCD屏，進行LCD屏特性和質量測試，通常所述交流耦合EDP/VBYONE信號的發送端和接收端都有一個μF級的耦合電容。在實際測試操作中，經常由于該電容短路、開路、容值錯誤等異常現象影響點屏效果，出現畫異、屏幕不亮等情況，影響通訊和顯示效果，導致測試效率低下，嚴重時甚至會燒毀LCD屏，造成不必要的損失，耽誤生產進度，而整個測試鏈路涉及到儀器、發送端、保護器件、接收端等非常多的器件，很難定位到具體的問題點所在，無法判定故障及采取相應措施。

實用新型內容

鑒于上述現有技術存在的問題，本實用新型提供了一種EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置，可實時測量LCD屏端EDP/VBYONE信號傳輸中的耦合電容，快速判定耦合電容異常的問題所在。

本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是：一種EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置，包括：恒流產生模塊、通道控制模塊、參數檢測模塊、參數存儲模塊和上位機通訊模塊；所述恒流產生模塊用于產生一個μA級別的恒流源，使待測耦合電容充電；所述通道控制模塊用于切換多路測試信號；在所述參數檢測模塊上運行各種控制程序，用于檢測、輸出所述EDP/VBYONE信號的各種參數；所述參數存儲模塊用于存儲所述參數檢測模塊的各檢測參數；所述上位機通訊模塊用于實現所述參數檢測模塊與上位機的互聯。

作為對上述技術方案的改進，所述恒流產生模塊為恒流產生電路。

作為對上述技術方案的改進，所述通道控制模塊為通道控制電路,包括2個以上CD4052。

作為對上述技術方案的改進，所述參數檢測模塊包括MCU。

作為對上述技術方案的改進，所述參數存儲模塊包括EEPROM。

作為對上述技術方案的改進，所述上位機通訊模塊包括RS485通訊模塊。

與現有技術相比，本實用新型提供的EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置，連接在EDP/VBYONE信號測試設備與LCD屏端之間，實現了對LCD屏端EDP/VBYONE信號傳輸中耦合電容進行實時測量，輔助工作人員及時定位所述耦合電容異常的問題所在，以進一步快速判定EDP/VBYONE信號傳輸中的故障并采取相應的措施，提高了生產效率。

附圖說明

圖1是本實用新型一個實施例中EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置的結構示意圖；

圖2是本實用新型一個實施例中EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置的測量原理線路圖。

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本實用新型。

具體實施方式

現在結合附圖對本實用新型作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本實用新型的基本結構，因此其僅顯示與本實用新型有關的構成。

請參見圖1，本實用新型提供一種EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置，包括：恒流產生模塊10、通道控制模塊20、參數檢測模塊30、參數存儲模塊40和上位機通訊模塊50。所述EDP/VBYONE信號的耦合電容測量裝置，連接在EDP/VBYONE信號測試設備與LCD屏端之間，用于對EDP/VBYONE信號傳輸中LCD屏端的耦合電容進行實時測量，以及時準確的定位實際測試操作中LCD屏端耦合電容異常的具體問題點，從而輔助工作人員判定所述EDP/VBYONE信號傳輸中的故障所在。

請參見圖2，所述恒流產生模塊10用于產生一個μA級別的恒流源I_X，使待測耦合電容C_X充電；所述通道控制模塊20用于切換多路測試信號；在所述參數檢測模塊30上運行各種控制程序，用于檢測所述EDP/VBYONE信號的各種參數并對整個檢測過程進行控制及做出反饋；所述參數存儲模塊40用于存儲所述參數檢測模塊30的各檢測參數；所述上位機通訊模塊50用于實現所述參數檢測模塊30與上位機的互聯。