[實用新型]基板邊部檢測設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720552649.3 | 申請日: | 2017-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN206710330U | 公開(公告)日: | 2017-12-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周波;李青;王麗紅;鄭權(quán) | 申請(專利權(quán))人: | 東旭科技集團有限公司;東旭集團有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京英創(chuàng)嘉友知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11447 | 代理人: | 陳慶超,桑傳標 |
| 地址: | 100070 北京市豐臺區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基板邊部 檢測 設(shè)備 | ||
1.一種基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述基板邊部檢測設(shè)備包括:拍攝單元(2),該拍攝單元(2)布置在靠近基板(1)邊緣的第一側(cè)表面(11)的位置以能夠拍攝到基板(1)邊緣的所述第一側(cè)表面(11)的圖像;照明單元(4),該照明單元(4)用于對基板(1)邊緣照射光;第一反光單元(3),該第一反光單元(3)布置在靠近基板(1)邊緣的第二側(cè)表面(12)的位置,所述拍攝單元(2)通過所述第一反光單元(3)能夠拍攝到基板(1)邊緣的所述第二側(cè)表面(12)的圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述第一反光單元(3)布置為能夠?qū)?1)邊緣的所述第二側(cè)表面(12)的光線反射180°后射入所述拍攝單元(2)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述第一反光單元(3)包括位于基板(1)邊緣的所述第二側(cè)表面(12)的正上方的第一直角棱鏡(5)、以及位于基板(1)邊緣的所述第二側(cè)表面(12)的斜上方的第二直角棱鏡(6),所述第一直角棱鏡(5)和所述第二直角棱鏡(6)的傾斜表面均背對于所述第二側(cè)表面(12)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述基板邊部檢測設(shè)備包括用于調(diào)整所述第一反光單元(3)的位置和角度的位置調(diào)整裝置,所述第一反光單元(3)設(shè)置在該位置調(diào)整裝置上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述基板邊部檢測設(shè)備還包括布置在基板(1)邊緣的頂端面外側(cè)的第二反光單元,所述拍攝單元(2)通過所述第二反光單元能夠拍攝到基板(1)邊緣的頂端面的圖像。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述第二反光單元為第三直角棱鏡(7)且該第三直角棱鏡(7)的傾斜表面背對于基板(1)邊緣的所述頂端面。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述照明單元(4)包括以基板(1)邊緣的頂端延伸線為基準對稱布置在基板(1)邊緣外側(cè)的第一照明部(8)和第二照明部(9)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述照明單元(4)為LED燈光源或鹵素燈光源。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述拍攝單元(2)為線陣CCD相機或面陣CCD相機。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板邊部檢測設(shè)備,其特征在于,所述基板邊部檢測設(shè)備包括殼體(10),所述拍攝單元(2)、所述第一反光單元(3)和所述照明單元(4)集成在所述殼體(10)中,所述殼體(10)對應(yīng)于基板(1)邊緣的表面上形成有用于容納基板(1)邊緣的開口槽(13),所述第一反光單元(3)和所述拍攝單元(2)位于所述開口槽(13)的兩側(cè)且分別與所述開口槽(13)對應(yīng)布置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東旭科技集團有限公司;東旭集團有限公司,未經(jīng)東旭科技集團有限公司;東旭集團有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201720552649.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:管道無損檢測裝置
- 下一篇:一種模具內(nèi)部視覺檢測裝置
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





