[實用新型]一種短路檢測及保護(hù)電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720499176.5 | 申請日: | 2017-05-08 |
| 公開(公告)號: | CN207053161U | 公開(公告)日: | 2018-02-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李東瑞;張丹 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫市比奧迪科技有限公司 |
| 主分類號: | H02H3/08 | 分類號: | H02H3/08 |
| 代理公司: | 無錫市朗高知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司32262 | 代理人: | 趙華 |
| 地址: | 214121 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 短路 檢測 保護(hù) 電路 | ||
1.一種短路檢測及保護(hù)電路,包括:檢測電路、保護(hù)電路,其特征在于:所述保護(hù)電路包括有:光耦Ⅰ、MOS管Ⅰ以及功放電阻3R1和可擦除可編輯邏輯器件(以下簡稱:EPLD),所述光耦Ⅰ的輸入端接EPLD輸出端,光耦Ⅰ輸出端接MOS管Ⅰ柵極(G極),利用光耦Ⅰ輸出信號驅(qū)動MOS管Ⅰ,所述MOS管Ⅰ的漏極(D極)經(jīng)功放電阻3R1后接負(fù)載鉬絲;所述檢測電路包括有:采樣電阻3R2、可控穩(wěn)壓源、光耦Ⅱ,所述采樣電阻3R2一端接地,另一端接MOS管Ⅰ的源極(S極),用于檢測MOS管Ⅰ的負(fù)載鉬絲狀態(tài),所述可控穩(wěn)壓源參考極接采樣電阻3R2與MOS管Ⅰ源極(S極)公共端,所述可控穩(wěn)壓源陰極(R極)接光耦Ⅱ輸入端,所述光耦Ⅱ輸出端接EPLD輸入端,用于將加工狀態(tài)反饋于EPLD。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種短路檢測及保護(hù)電路,其特征在于:所述保護(hù)電路中,電阻1R2與光耦Ⅰ輸出端的公共端還連接有電阻1R1,電阻1R1另一端接地。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種短路檢測及保護(hù)電路,其特征在于:所述保護(hù)電路中,MOS管Ⅰ為N型,MOS管ⅠD極的功放電阻3R1與續(xù)流二極管D1 反向并聯(lián),用于保護(hù)MOS管Ⅰ。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種短路檢測及保護(hù)電路,其特征在于:所述可控穩(wěn)壓源Ⅰ可采用TL431,所述可控穩(wěn)壓源Ⅰ的A極接地、K極連接電阻4R1后接光耦Ⅱ。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種短路檢測及保護(hù)電路,其特征在于:所述光耦Ⅱ可選用M600型號,所述光耦Ⅱ的信號輸出端5腳與EPLD輸入端相連,4腳與A0V相連,光耦Ⅱ的4、5腳之間接C1電容,光耦的5、6腳之間連接5R1電阻。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無錫市比奧迪科技有限公司,未經(jīng)無錫市比奧迪科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201720499176.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





