[實用新型]超級電容模組測試系統

有效

• 申請號: 201720367267.3
• 申請日: 2017-04-10
• 公開（公告）號: CN206627581U
• 公開（公告）日: 2017-11-10
• 發明（設計）人: 蔡增杰;梁桂源
• 申請（專利權）人: 深圳市鼎芯無限科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市韋恩肯知識產權代理有限公司44375
• 代理人: 李玉平

1.超級電容模組測試系統，其特征在于，包括MCU、超級電容管理模塊、電壓采集模塊、電流采集模塊、恒壓恒流源模塊、電源控制電路和放電負載，所述超級電容管理模塊通過SMBus系統管理總線與所述MCU連接，所述超級電容管理模塊分別與所述電壓采集模塊、所述電流采集模塊、所述恒壓恒流源模塊和所述電源控制電路連接，所述放電負載與所述MCU連接。

2.根據權利要求1所述的超級電容模組測試系統，其特征在于所述電壓采集模塊、所述電流采集模塊、所述恒壓恒流源模塊和所述放電負載分別與待測超級電容模組連接。

3.根據權利要求1所述的超級電容模組測試系統，其特征在于所述MCU連接有LCD顯示器。

4.根據權利要求1所述的超級電容模組測試系統，其特征在于所述MCU連接有LED顯示模塊。

5.根據權利要求1所述的超級電容模組測試系統，其特征在于所述MCU連接有蜂鳴報警器。

6.根據權利要求1所述的超級電容模組測試系統，其特征在于所述MCU連接有按鍵控制器。

7.根據權利要求1所述的超級電容模組測試系統，其特征在于所述超級電容管理模塊為TI BQ33100。