[實用新型]一種硬標簽質量參數檢測電路

有效

• 申請號: 201720280458.6
• 申請日: 2017-03-22
• 公開（公告）號: CN207008084U
• 公開（公告）日: 2018-02-13
• 發明（設計）人: 盛慶元;汪鎵威;蔡曉霞;徐煌俊;朱丹;李晨輝;王凌濤
• 申請（專利權）人: 紹興職業技術學院
• 主分類號: G01V13/00
• 分類號: G01V13/00
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司11246
• 代理人: 連平

1.一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于，包括：

主控模塊，所述主控模塊為單片機；

激勵信號產生模塊，所述激勵信號產生模塊用于產生發射線圈的交流激勵信號，所述激勵信號產生模塊的方波信號輸出口與所述主控模塊連接，用于提供交流激勵信號頻率信息；

DA模塊和第一放大電路模塊，所述DA模塊的輸入端與所述主控模塊連接，所述DA模塊的輸出端連所述第一放大電路模塊，所述第一放大模塊的輸出端連接所述激勵信號產生模塊的輸入端，所述DA模塊輸出端的模擬電壓經過所述第一放大電路模塊放大后輸出調頻電壓給所述激勵信號產生模塊；

傳感器等效電路模塊和跟隨電路模塊，所述傳感器等效電路模塊連接所述跟隨電路模塊，所述跟隨電路模塊連接所述激勵信號產生模塊，所述激勵信號產生模塊產生的正弦波信號經過跟隨電路模塊中的跟隨電路后連接到所述傳感器等效電路模塊中的發射線圈上；

二級積分電路模塊和AC-DC轉換電路模塊，所述二級積分電路模塊與所述傳感器等效電路模塊連接，所述AC-DC轉換電路模塊與所述二級積分電路模塊連接，所述二級積分電路模塊對所述傳感器等效電路模塊中接收線圈的輸出信號進行處理，并將處理后的接收線圈的輸出信號傳輸到AC-DC轉換電路模塊中完成AC-DC轉換，獲取信號的有效值電壓；

第二放大電路模塊和AD模塊，所述第二放大電路模塊與所述AC-DC轉換電路模塊連接，所述AD模塊的輸入端與所述第二放大電路模塊連接，所述AD模塊的輸出端與所述主控模塊連接，所述第二放大電路模塊對所述有效值電壓進行比例運算放大，放大后的有效值電壓經過AD模塊完成AD轉換后送入到所述主控模塊中進行數據處理；

液晶顯示模塊，所述液晶顯示模塊與所述主控模塊連接，所述液晶顯示模塊用于顯示主控模塊進行數據處理后獲取的硬標簽質量參數。

2.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述傳感器等效電路模塊中的傳感器采用四線圈傳感器探頭，所述四線圈傳感器探頭包括第一發射線圈、第二發射線圈、主接收線圈、輔接收線圈。

3.根據權利要求2所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述第一發射線圈和所述第二發射線圈結構相同，所述第一發射線圈和所述第二發射線圈在工作時組成亥姆赫茲線圈，所述主接收線圈和所述輔接收線圈直徑相同，旋向相反，所述第一發射線圈的直徑是所述主接收線圈直徑的4倍，所述主接收線圈的直徑大于硬標簽中的磁棒線圈的直徑，所述主接收線圈的直徑小于1.5倍硬標簽中的磁棒線圈的直徑。

4.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述主控模塊采用AT89C51單片機。

5.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述激勵信號產生模塊采用信號發生器芯片ICL8038，所述信號發生器芯片ICL8038工作在調頻模式。

6.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述DA模塊采用12位的數模轉換芯片MAX5822。

7.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述AC-DC轉換電路模塊采用AD736芯片。

8.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述AD模塊采用MAX1240芯片。

9.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述液晶顯示模塊采用LM016L液晶模塊。

10.根據權利要求1所述的一種硬標簽質量參數檢測電路，其特征在于：

所述硬標簽質量參數包括硬標簽諧振頻率和品質因素。