[實用新型]一種具有儀器高精確測量功能的水準儀

有效

• 申請號: 201720238801.0
• 申請日: 2017-03-13
• 公開（公告）號: CN206601127U
• 公開（公告）日: 2017-10-31
• 發明（設計）人: 廖孟光;李羲;李朝奎;易四海
• 申請（專利權）人: 湖南科技大學
• 主分類號: G01C5/00
• 分類號: G01C5/00;G01C15/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及測量技術領域，尤其是水準儀儀器高的測量。

背景技術

水準儀是建立水平視線測定地面兩點間高差的儀器。原理為根據水準測量原理測量地面點間高差。主要部件有望遠鏡、管水準器（或補償器）、垂直軸、延展基座、腳螺旋。按結構分為微傾水準儀、自動安平水準儀、激光水準儀和電子水準儀。按精度分為精密水準儀和普通水準儀。

確定地面點高程的測量工作，稱為高程測量。高程測量又是測量三項基本工作之一。根據使用儀器和施測方法的不同，高程測量可分為水準測量、三角高程測量和氣壓高程測量。用水準儀測量高程，稱為水準測量，它是高程測量中最常用、最精密的方法。

水準測量的基本原理是利用水準儀提供的“水平視線”，測量兩點間高差，從而由已知點高程推算出未知點高程。

目前，通常用高差法測量高程。若已知A點的高程，欲測定B點的高程，則在、兩點上豎立兩根尺子，并在、兩點之間安置一架可以得到水平視線的儀器。假設水準儀的水平視線在尺子上的位置讀數分別為尺（后視）讀數為，尺（前視）讀數為，則、兩點之間的高程差（簡稱高差）為

（1）

于是點的高程為

（2）

（3）

連續水準測量。在實際水準測量中，A、B 兩點間高差較大或相距較遠，安置一次水準儀不能測定兩點之間的高差。此時有必要沿A、B 的水準路線增設若干個必要的臨時立尺點，即轉點（用作傳遞高程）。根據水準測量的原理依次連續地在兩個立尺中間安置水準儀來測定相鄰各點間高差，求和得到A、B 兩點間的高差值。

目前測量高程使用的高差法中，由于水準儀儀器高是未知的，每次測量兩點的高程差都必須在兩點之間架設水準儀以測量兩點的水準尺讀數，這樣測量效率受到了限制。

發明內容

本實用新型所要解決的技術問題是如何精確地測量水準儀儀器高。

一種具有儀器高精確測量功能的水準儀，包括水準儀，延展基座，測量尺和光學測微器，延展基座為水準儀基座的水平延伸體，延展基座上具有一豎直方向的穿孔尺套，測量尺從穿孔尺套中穿過，光學測微器安裝在延展基座上，朝向測量尺的刻度面，測量尺下端為基底。優選地，測量尺的刻度面上有一豎直方向的凹槽，刻度位于凹槽內。優選地，測量尺的橫截面為正三角形。優選地，水準儀為光學水準儀，測量尺的刻度與水準尺的刻度相配套。優選地，基底固定安裝在測量尺下端。優選地，基底為圓柱形。優選地，基底可拆卸更換。優選地，測量尺為銦鋼尺。優選地，測量尺的長度在1650-1800mm之間。本實用新型由于采用了以上技術方案，具有以下有益效果：水準儀的高程是已知的，減少了該基準點上的高程測量步驟，測量效率翻倍；水準儀精平后，測量尺與延展基座和大地兩平面嚴格垂直，其次測量尺始終伸開與地面基準點緊密接觸，且光學測微器的測量精度很高，共同保證了所測儀器高程的精度。附圖說明

圖1是一種具有儀器高精確測量功能的水準儀整體結構示意圖；

圖2是水準儀與測量尺連接部分結構示意圖；

圖3是目前的高程測量高差法原理示意圖；

圖4是本實用新型的高程測量高差法原理示意圖；

圖中：1.光學水準儀，2.測量尺，3.光學測微器，4.延展基座，5.圓柱形基底，6. 穿孔尺套，7.刻度。

具體實施方式

實施例1，如附圖1、2所示。

一種具有儀器高精確測量功能的水準儀，包括水準儀，延展基座，測量尺和光學測微器，延展基座為水準儀基座的水平延伸體，延展基座上具有一豎直方向的穿孔尺套，測量尺從穿孔尺套中穿過，光學測微器安裝在延展基座上，朝向測量尺的刻度面，測量尺下端為基底。

測量尺依靠自身重力，能夠保證測量尺底端與地面基準點時刻保持接觸，減少測量誤差。

優選地，測量尺的刻度面上有一豎直方向的凹槽，刻度位于凹槽內。這是為了避免刻度面在穿孔尺套內滑動帶來的磨損。優選地，測量尺的橫截面為正三角形。測量尺橫截面為正三角形的理由是，在用料和用量相同情況下，三角形較圓形等多邊形結構更穩定，不易產生彎曲形變。優選地，水準儀為光學水準儀，測量尺的刻度與水準尺的刻度相配套。這是為了使得測量尺與水準尺能夠配套使用。