[實(shí)用新型]高精度光學(xué)檢測機(jī)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720094078.3 | 申請日: | 2017-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN206997120U | 公開(公告)日: | 2018-02-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林斌;宋繼東;王旭玲 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江四點(diǎn)靈機(jī)器人股份有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/34 | 分類號: | B07C5/34;B07C5/04;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 310052 浙江省杭州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高精度 光學(xué) 檢測 | ||
1.高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,包括:傳送產(chǎn)品并檢測產(chǎn)品上表面和外側(cè)面的第一圓盤,連接于上述第一圓盤并剔除不合格產(chǎn)品的第一排料口,接收第一圓盤檢測合格的產(chǎn)品并檢測產(chǎn)品下表面、內(nèi)側(cè)面、尺寸的第二圓盤,連接于上述第二圓盤并剔除不合格產(chǎn)品的第二排料口,置于上述第一圓盤上端的上表面檢測組件,置于上述第一圓盤上端的外側(cè)面檢測組件,置于上述第二圓盤上端的下表面檢測組件,置于上述第二圓盤上端的內(nèi)側(cè)面檢測組件,連接于上述第二圓盤的尺寸檢測組件,置于上述第一排料口前方的第一剔除組件,置于上述第二排料口前方的第二剔除組件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述上表面檢測組件組成有:置于上述第一圓盤下的背光源,設(shè)于上述第一圓盤上的環(huán)形光源,置于上述環(huán)形光源上的同軸光源,設(shè)于上述同軸光源上的表面相機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述下表面檢測組件組成有:置于上述第二圓盤下的背光源,設(shè)于上述第二圓盤上的環(huán)形光源,置于上述環(huán)形光源上的同軸光源,設(shè)于上述同軸光源上的表面相機(jī)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述上表面檢測組件、下表面檢測組件設(shè)有多組。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述表面相機(jī)的中心軸與同軸光源的中心軸重合。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述外側(cè)面檢測組件組成有:置于上述第一圓盤下的背光源,設(shè)于上述第一圓盤上的同軸光源,設(shè)于上述同軸光源周圍的側(cè)面相機(jī)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述內(nèi)側(cè)面檢測組件組成有:置于上述第二圓盤下的背光源,設(shè)于上述第二圓盤上的同軸光源,設(shè)于上述同軸光源周圍的側(cè)面相機(jī)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述側(cè)面相機(jī)為多個,上述側(cè)面相機(jī)的中心點(diǎn)的連線為圓形。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,尺寸檢測組件組成有:產(chǎn)品橫向尺寸檢測工件,垂直于上述產(chǎn)品橫向尺寸檢測工件的產(chǎn)品豎向尺寸檢測工件;上述產(chǎn)品橫向尺寸檢測工件、產(chǎn)品豎向尺寸檢測工件組成有:背光源和相機(jī)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度光學(xué)檢測機(jī),其特征在于,上述第一剔除組件、第二剔除組件組成有:光纖感應(yīng)器,設(shè)于上述第一排料口或第二排料口前方并接收光纖感應(yīng)器信息的氣嘴,接住不合格產(chǎn)品的擋料板。
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