[實用新型]一種雙光路粉塵濃度測量裝置

有效

• 申請號: 201720063195.3
• 申請日: 2017-01-18
• 公開（公告）號: CN206557059U
• 公開（公告）日: 2017-10-13
• 發明（設計）人: 黨文佳;李玉婷
• 申請（專利權）人: 西安航空學院
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙)11427
• 代理人: 莫文新

1.一種雙光路粉塵濃度測量裝置，其特征在于，包括光源部分、激光傳輸部分、測量部分、信號轉換部分，所述光源部分發射激光，并由所述激光傳輸部分將激光傳輸至所述測量部分，激光在所述測量部分完成測量后傳輸回所述激光傳輸部分，所述激光傳輸部分將測量后的激光傳輸至所述信號轉換部分，所述信號轉換部分將光信號轉化為電信號，其中：

所述測量部分包括第一測量區、第二測量區，所述第一測量區、所述第二測量區均與所述激光傳輸部分連接；所述光源部分產生兩束激光，分別對所述第一測量區與所述第二測量區進行測量；

所述激光傳輸部分包括第一定向耦合器、第二定向耦合器、第三定向耦合器、第四定向耦合器；

所述第一定向耦合器與所述第三定向耦合器通過光纖連接，所述第二定向耦合器與所述第四定向耦合器通過光纖連接，所述第三定向耦合器與所述第一測量區連接，所述第四定向耦合器與所述第二測量區連接；

激光經所述第一定向耦合器、所述第三定向耦合器依次傳輸到所述第一測量區進行測量；激光經所述第二定向耦合器、所述第四定向耦合器依次傳輸到所述第二測量區進行測量；

所述第三定向耦合器與所述第四定向耦合器位于測量現場，所述第一定向耦合器與所述第二定向耦合器遠離測量現場。

2.如權利要求1所述的一種雙光路粉塵濃度測量裝置，其特征在于，所述第一測量區包括第一發射端、第一衰減區與第一接收端，所述第二測量區包括第二發射端、第二衰減區與第二接收端，其中：

所述第一衰減區位于所述第一發射端與所述第一接收端之間，所述第二衰減區位于所述第二發射端與所述第二接收端之間，所述第一衰減區與所述第二衰減區內為含有粉塵的待測氣體；激光在所述第一衰減區內的光程小于激光在所述第二衰減區內的光程；

所述測量部分位于測量現場，所述光源部分與所述信號轉換部分遠離所述測量部分。

3.如權利要求2所述的一種雙光路粉塵濃度測量裝置，其特征在于，所述光源部分包括激光器與分束器，其中：

所述激光器發射激光并將激光輸送至所述分束器，所述分束器將激光分為第一光路與第二光路；

所述第一光路輸送至所述第一定向耦合器，并經所述第三定向耦合器輸送至所述第一測量區進行測量；

所述第二光路輸送至所述第二定向耦合器，并經所述第四定向耦合器輸送至所述第二測量區進行測量。

4.如權利要求3所述的一種雙光路粉塵濃度測量裝置，其特征在于，所述第一發射端包括第一準直器，所述第一接收端包括第一反向準直器，所述第二發射端包括第二準直器，所述第二接收端包括第二反向準直器，其中：

所述第一準直器和所述第一反向準直器均與所述第三定向耦合器連接，所述第二準直器和所述第二反向準直器均與所述第四定向耦合器連接；

所述第一光路經所述第一準直器擴束后進入所述第一衰減區，所述第一光路通過所述第一衰減區的衰減后照射入所述第一反向準直器，所述第一光路由所述第一反向準直器縮束以后傳輸至所述第三定向耦合器；

所述第二光路經所述第二準直器擴束后進入所述第二衰減區，所述第二光路通過所述第二衰減區的衰減后照射入所述第二反向準直器，所述第二光路由所述第二反向準直器縮束以后傳輸至所述第四定向耦合器。

5.如權利要求4所述的一種雙光路粉塵濃度測量裝置，其特征在于，所述信號轉換部分包括第一光電探測器與第二光電探測器，其中：

所述第一定向耦合器與所述第一光電探測器連接，所述第二定向耦合器與所述第二光電探測器連接；

完成測量后的所述第一光路從所述第三定向耦合器輸出，通過光纖傳輸至所述第一定向耦合器，再經所述第一定向耦合器傳輸至所述第一光電探測器；

完成測量后的所述第二光路從所述第四定向耦合器輸出，通過光纖傳輸至所述第二定向耦合器，再經所述第二定向耦合器傳輸至所述第二光電探測器。

6.如權利要求5所述的一種雙光路粉塵濃度測量裝置，其特征在于，所述信號轉換部分還包括第一擴束器與第二擴束器，其中：

所述第一擴束器安裝在所述第一定向耦合器與所述第一光電探測器之間，所述第二擴束器安裝在所述第二定向耦合器與所述第二光電探測器之間；

完成測量后的所述第一光路從所述第一定向耦合器傳出后經所述第一擴束器擴束，再傳輸至所述第一光電探測器；

完成測量后的所述第二光路從所述第二定向耦合器傳出后經所述第二擴束器擴束，再傳輸至所述第二光電探測器。