[實用新型]用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置

有效

• 申請號: 201720021621.7
• 申請日: 2017-01-09
• 公開（公告）號: CN206505172U
• 公開（公告）日: 2017-09-19
• 發明（設計）人: 趙品彰
• 申請（專利權）人: 江蘇省計量科學研究院
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 南京鐘山專利代理有限公司32252
• 代理人: 李小靜

1.一種用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置，其特征在于，包括底座(1)、立柱(2)、安裝架、主刻度盤(3)、副刻度盤(4)，所述立柱(2)固定于底座(1)上，所述安裝架安裝于立柱(2)上，所述安裝架可沿立柱(2)上下移動，所述主刻度盤(3)和副刻度盤(4)固定于安裝架上，測量儀的探頭(7)裝設于安裝架上。

2.根據權利要求1所述的用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置，其特征在于，所述安裝架包括第一連桿(5)和第二連桿(6)，所述第一連桿(5)的兩端分別設有第一安裝座(51)、第二安裝座(52)，所述第二連桿(6)的一端設有第三安裝座(61)，所述第一安裝座(51)、第二安裝座(52)、第三安裝座(61)沿軸線方向都設有通孔，所述立柱(2)穿設于第一安裝座(51)，所述第二連桿(6)穿設于第二安裝座(52)。

3.根據權利要求2所述的用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置，其特征在于，所述主刻度盤(3)穿套在第二連桿(6)上，且固定于所述第二安裝座(52)的端面；所述副刻度盤(4)固定于第三安裝座(61)的端面。

4.根據權利要求3所述的用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置，其特征在于，所述探頭(7)裝設于第三安裝座(61)的通孔。

5.根據權利要求2所述的用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置，其特征在于，所述第一安裝座(51)和第二安裝座(52)的軸線相垂直。

6.根據權利要求2所述的用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置，其特征在于，所述立柱(2)與第一安裝座(51)、所述第二連桿(6)和第二安裝座(52)都通過螺栓可移動連接。

7.根據權利要求1～6任一項所述的用于低頻磁場測量儀校準探頭的定位裝置，其特征在于，所述底座(1)、立柱(2)、安裝架、主刻度盤(3)、副刻度盤(4)均為絕緣材料制成。