[發明專利]電路板故障檢測方法和裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201711488840.7
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN108169664B
• 公開（公告）日: 2021-01-01
• 發明（設計）人: 歐陽云軒;王星;張恂;翟學濤;楊朝輝;高云峰
• 申請（專利權）人: 深圳市大族數控科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

1.一種電路板故障檢測方法，其特征在于，包括：

以基準網絡為參考電極獲取待測電路板的測試點電容；

根據所述測試點電容得到網絡電容；

根據所述測試點電容和所述網絡電容進行故障檢測，生成第一故障檢測信息；

所述以基準網絡為參考電極獲取待測電路板的測試點電容的步驟，包括：

預先對所述待測電路板的每條網絡設定基準網絡，進行測試點電容檢測時，以所述測試點所屬網絡的基準網絡為參考電極，對所述待測電路板的測試點進行電容檢測，得到測試點電容；

所述根據所述測試點電容和所述網絡電容進行故障檢測，生成第一故障檢測信息的步驟，包括：

將所述測試點電容與測試點電容樣本進行比較，得到異常測試點；

根據所述異常測試點生成第一開路故障信息；所述第一開路故障信息包括異常測試點、異常測試點的電容值以及異常測試點所屬的網絡；

將所述網絡電容與網絡電容樣本進行比較，得到異常網絡；

根據所述異常網絡生成第一短路故障信息；所述第一短路故障信息包括異常網絡和異常網絡的電容值；

根據所述第一開路故障信息和所述第一短路故障信息生成第一故障檢測信息。

2.根據權利要求1所述的電路板故障檢測方法，其特征在于，所述將所述測試點電容與測試點電容樣本進行比較，得到異常測試點的步驟，包括：

將所述測試點電容與測試點電容樣本進行比較，得到第一偏差值；

當檢測到所述第一偏差值大于第一閾值時，獲取所述第一偏差值對應的異常測試點。

3.根據權利要求1所述的電路板故障檢測方法，其特征在于，所述將所述網絡電容與網絡電容樣本進行比較，得到異常網絡的步驟，包括：

將所述網絡電容與網絡電容樣本進行比較，得到第二偏差值；

當檢測到所述第二偏差值大于第二閾值時，獲取所述第二偏差值對應的異常網絡。

4.根據權利要求1所述的電路板故障檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一開路故障信息和所述第一短路故障信息生成第一故障檢測信息的步驟之后，還包括：

獲取所述異常測試點對應網絡的第一網絡電阻；

根據所述第一網絡電阻得到第二開路故障信息；

獲取所述異常網絡的第二網絡電阻；

根據所述第二網絡電阻得到第二短路故障信息；

根據所述第二開路故障信息和所述第二短路故障信息，生成第二故障檢測信息。

5.根據權利要求4所述的電路板故障檢測方法，其特征在于，所述根據所述第二開路故障信息和所述第二短路故障信息，生成第二故障檢測信息的步驟之后，還包括：

根據所述第二故障檢測信息得到非異常測試點和非異常網絡；

根據所述非異常測試點的測試點電容更新所述測試點電容樣本，根據所述非異常網絡的網絡電容更新所述網絡電容樣本。

6.根據權利要求1所述的電路板故障檢測方法，其特征在于，所述以基準網絡為參考電極獲取待測電路板的測試點電容的步驟之前，還包括：

分別以各投影網絡為參考電極獲取樣本電路板中各網絡的網絡電容集合；

獲取各網絡的所述網絡電容集合中最大電容值對應的投影網絡，得到各網絡的基準網絡。

7.根據權利要求6所述的電路板故障檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取各網絡的網絡電容集合中最大電容值，得到網絡電容樣本；

以基準網絡為參考電極獲取樣本電路板的測試點電容，得到測試點電容樣本。