[發明專利]一種具有防呆調試接口的PCB板在審
| 申請號: | 201711460795.4 | 申請日: | 2017-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN108169663A | 公開(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發明(設計)人: | 張文;彭鵬;姜黎 | 申請(專利權)人: | 湖南國科微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯長明;許偉群 |
| 地址: | 410100 湖南省長*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 防呆 管腳 電源管腳 調試接口 對地短路 串口板 低電平 電連接 導通 排針 電路 調試 通信連接 芯片電源 芯片損壞 信號管腳 柵極接地 漏極 上電 源極 申請 | ||
本申請實施例公開了一種具有防呆調試接口的PCB板,PCB板體與JTAG串口板通信連接,其中:JTAG串口板設置有JTAG調試接口,PCB板體上設置有一防呆電路,防呆電路包括P?MOS管,P?MOS管的柵極與JTAG調試接口中的防呆管腳相連接,防呆管腳設置為低電平;P?MOS管的源極與電源管腳電連接,P?MOS管的漏極與JTAG調試接口電連接。由于防呆管腳開始是設置為低電平,進行調試時,當JTAG調試器與調試排針插入正確時,柵極接地,P?MOS管導通,電源管腳為JTAG調試接口上電。如果排針插入錯誤,P?MOS管不導通,從而防止了芯片電源對地短路、信號管腳對地短路并引起芯片損壞。
技術領域
本申請涉及電路板技術領域,尤其涉及一種具有防呆調試接口的PCB板。
背景技術
JTAG(Joint Test Action Group,聯合測試工作組)是一種國際標準測試協議,主要用于芯片內部測試。JTAG的基本原理是在器件內部定義一個TAP(Test Access Port;測試訪問口)通過專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在一起,形成一個JTAG鏈,能實現對各個器件分別測試。
現有技術中各種芯片是設置在PCB(Printed Circuit Board,印制電路板)板上的,然后引出JTAG調試器接口。如果存在芯片出現故障,對芯片進行JTAG調試時,將調試器接口連接器接入PCB板進行調試,從而實現對故障芯片的調試。但是將調試器接口連接器接入PCB板時,可能會存在反插、移位和脫落的情況,容易產生CPU或者其他芯片電源對地短路、信號管腳對地短路并損壞的風險。
現有中為了克服上述問題,提出了以下幾種解決方法:在PCB板上設置過孔,每個過孔對應一個管腳;在PCB板上印制絲印,提示調試管腳的對應關系;或者PCB板上放置金手指,采用特殊夾具將JTAG調試器接口引出。但是上述方法只能在一定程度上可以解決反插、移位和脫落中部分問題,仍然不能有效避免調試過程中由于芯片電源對地短路、信號管腳對地短路并引起芯片損壞的問題。
發明內容
本申請提供了一種具有防呆調試接口的PCB板,以解決傳統的PCB板在接入JTAG調試器時出現芯片電源對地短路、信號管腳對地短路并引起芯片損壞的問題。
為了解決上述技術問題,本申請實施例公開了如下技術方案:
一種具有防呆調試接口的PCB板,包括:PCB板體和JTAG串口板,所述PCB板體與所述JTAG串口板通信連接,其中:所述JTAG串口板設置有JTAG調試接口,所述PCB板體上設置有一防呆電路,所述防呆電路包括P-MOS管,所述PMOS管的柵極所述JTAG調試接口中的防呆管腳相連接,所述防呆管腳設置為低電平;所述P-MOS管的源極與電源管腳電連接,所述P-MOS管的漏極與所述JTAG調試接口電連接。
可選地,所述PCB板體上設置有芯片調試接口,所述芯片調試接口分別與所述JTAG串口板和所述防呆電路相連接。
可選地,所述芯片調試接口與所述JTAG串口板之間設置有夾具式連接器,所述夾具式連接器分別連接所述芯片調試接口和所述JTAG串口板。
可選地,所述芯片調試接口設置有10個管腳,管腳之間的間距為1.27mm。
可選地,所述防呆電路和所述芯片調試接口與所述PCB板體的連接方式包括焊接連接。
可選地,所述P-MOS管的漏極還分別連接第一電容和第二電容的一端,所述第一電容和第二電容的另一端接地。
可選地,所述P-MOS管的源極還分別連接第三電容和功能電阻的一端,所述第三電容的另一端接地,所述功能電阻的另一端與所述P-MOS管的柵極相連接。
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