[發明專利]一種梯度相關性檢測的圖像自適應銳化方法和存儲介質有效
| 申請號: | 201711459542.5 | 申請日: | 2017-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN108038833B | 公開(公告)日: | 2020-10-13 |
| 發明(設計)人: | 吳偉霖;楊培杉 | 申請(專利權)人: | 瑞芯微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 福州市景弘專利代理事務所(普通合伙) 35219 | 代理人: | 林祥翔;徐劍兵 |
| 地址: | 350003 福建省*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 梯度 相關性 檢測 圖像 自適應 銳化 方法 存儲 介質 | ||
1.一種梯度相關性檢測的圖像自適應銳化方法,其特征在于,所述方法包括:
接收原始圖像,當判定所述原始圖像為非YUV格式圖像時,將所述原始圖像轉換為YUV圖像,所述YUV圖像包括Y分量圖像和UV分量圖像;
對Y分量圖像進行第一濾波處理,得到第一濾波圖像,并采用梯度算子對第一濾波圖像進行計算,得到第一梯度圖像;對Y分量圖像采用梯度算子進行計算,得到第二梯度圖像;
根據第二梯度圖像的梯度值確定Y分量圖像上各個像素點對應的銳化系數,并對第一梯度圖像和第二梯度圖像通過以下公式進行相關性檢測,確定相關性系數:
cr=r(x,y)-rmean(x,y)
其中,g1(x,y)表示第一梯度圖像上坐標為(x,y)的像素點的像素值,g0(x,y)表示第二梯度圖像與第一梯度圖像上坐標為(x,y)的像素點位置相對應的像素點的像素值;r(x,y)表示第一梯度圖像和第二梯度圖像坐標為(x,y)的像素點的相關系數;rmean(x,y)表示像素點(x,y)的鄰域像素點的平均相關系數,rout(x,y)值為0的時候表示二者不相關,值為1表示二者相關;所述鄰域像素點為以像素點(x,y)為中心的NXN子塊內、除了像素點(x,y)之外的其他像素點;cth表示比較閾值;
所述相關性系數用于確定需要進行銳化處理的像素點;
以及對Y分量圖像各個像素點進行亮度檢測,根據亮度檢測結果確定Y分量圖像各個像素點對應的區塊類型,基于所述區塊類型對Y分量圖像上的各個像素點進行第二濾波處理,得到第二濾波圖像;
根據第二濾波圖像、銳化系數、相關性系數以及第一濾波圖像的對應關系,對第二濾波圖像上需要進行銳化處理的各個像素點進行銳化處理,得到銳化處理后的Y分量圖像;
對UV分量圖像進行第三濾波處理,將第三濾波處理后的UV分量圖像和銳化處理后的Y分量圖像合并為YUV輸出圖像,并將YUV輸出圖像轉換為原始圖像格式并輸出。
2.如權利要求1所述的梯度相關性檢測的圖像自適應銳化方法,其特征在于,步驟“對Y分量圖像各個像素點進行亮度檢測,根據亮度檢測結果確定Y分量圖像各個像素點對應的區塊類型,基于所述區塊類型對Y分量圖像上的各個像素點進行第二濾波處理,得到第二濾波圖像”包括:
根據Y分量圖像上當前像素點的亮度值大小,確定當前像素點對應的預設閾值,所述預設閾值包括第一預設差值、第二預設差值、相似像素點最大值和相似像素點最小值;
以當前像素點為中心,計算NXN子塊內所有像素點的亮度均值,并計算當前像素點的亮度值與所述亮度均值的差值,得到亮度差值;
根據亮度差值與第一預設差值大小關系、以及統計的NXN子塊內與當前像素點相似的像素點個數和相似像素點最大值、相似像素點最小值之間的對應關系,確定當前NXN子塊對應的區塊類型;所述與當前像素點相似的像素點為NXN子塊內與當前像素點的亮度差值小于等于第二預設差值的像素點;
根據不同的區塊類型確定不同的濾波系數,對各個NXN子塊內的像素點進行第二濾波處理,得到第二濾波圖像。
3.如權利要求2所述的梯度相關性檢測的圖像自適應銳化方法,其特征在于,所述區塊類型包括第一區塊、第二區塊和第三區塊;步驟“根據亮度差值與第一預設差值大小關系、以及統計的NXN子塊內與當前像素點相似的像素點個數和相似像素點最大值、相似像素點最小值之間的對應關系,確定當前NXN子塊對應的區塊類型”包括:
當亮度差值小于第一預設差值,且統計的NXN子塊內與當前像素點相似的像素點個數大于相似像素點最大值時,判定NXN子塊的區塊類型為第一區塊;
當亮度差值不小于第一預設差值,且統計的NXN子塊內與當前像素點相似的像素點個數小于相似像素點最小值時,判定NXN子塊的區塊類型為第二區塊;
以及將既不屬于第一區塊也不屬于第二區塊的NXN子塊的區塊類型判定為第三區塊。
4.如權利要求1所述的梯度相關性檢測的圖像自適應銳化方法,其特征在于,所述第一濾波處理、第二濾波處理或第三濾波處理包括:高斯核平滑濾波處理、均值濾波處理、中值濾波處理、最值濾波處理、小波濾波處理中的任意一種。
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