[發明專利]X射線雙能檢測方法及系統有效
| 申請號： | 201711454075.7 | 申請日： | 2017-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN108254394B | 公開（公告）日： | 2020-09-01 |
| 發明（設計）人： | 金鵬;李法虎 | 申請（專利權）人： | 合肥美亞光電技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 張潤 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射線 檢測 方法 系統 | ||
1.一種X射線雙能檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
將待檢測物質通過X射線源進行照射；
使用預設的X光探測器接收透過所述待檢測物質的X射線，并調整所述X光探測器的高低能分界點，以輸出合適的目標高低能圖像；
對所述目標高低能圖像進行分析計算，得到第一函數和第二函數；
分別確定所述第一函數和第二函數的閾值，并根據所述第一函數和第二函數的閾值對所述待檢物質進行物料識別，其中，所述第二函數為高低能信號進行特征計算得到的表征材料原子量的雙能R1值；
所述雙能R1值的計算方式為：
其中，R1為所述雙能R1值，Nl為待檢測物質的低能灰度值，Nh為待檢測物質的高能灰度值，Nl0為空場的低能背景值，Nh0為空場的高能背景值，a和b均為第二函數的參數。
2.根據權利要求1所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述第一函數為低能灰度值。
3.根據權利要求2所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一函數和第二函數的閾值對所述待檢物質進行物料識別，包括：
以所述第一函數為橫坐標，以所述第二函數為縱坐標，建立雙函數坐標系；
在所述雙函數坐標系中，分別對所述第一函數和第二函數設定閾值，形成兩條直線，從而對所述待檢測物質中的不同物料進行劃分。
4.根據權利要求3所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述第一函數的閾值根據所述待檢測物質中各物料的灰度值的最大值和最小值來設定，所述第二函數的閾值根據所述待檢測物質中各物料的雙能R1值的最大值和最小值來設定。
5.根據權利要求1所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述雙能R1值根據雙能物質判別時表征物質特征量的R值得到，所述R值的計算方式為：
6.根據權利要求1所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述參數a和參數b均為小于1的正數。
7.根據權利要求1-6任一項所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述預設的X光探測器為采用預設材料的光子計數型X光探測器。
8.根據權利要求7所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述使用預設的X光探測器接收透過所述待檢測物質的X射線，并調整所述X光探測器的高低能分界點，以輸出合適的目標高低能圖像，包括：
所述預設的X光探測器接收透過所述待檢測物質的X射線的射線能量，并通過內部脈沖比較功能分別對以不同能量閾值作為高低能分界點的高低能信號進行統計，以輸出合適的目標高低能圖像。
9.根據權利要求7所述的X射線雙能檢測方法，其特征在于，所述預設材料至少包括：CdZnTe、CdTe。
10.一種X射線雙能檢測系統，其特征在于，包括：
X射線源，用于對待檢測物質進行照射；
處理模塊，用于使用預設的X光探測器接收透過所述待檢測物質的X射線，并調整所述X光探測器的高低能分界點，以輸出合適的目標高低能圖像；
分析模塊，用于對所述目標高低能圖像進行分析計算，得到第一函數和第二函數；
識別模塊，用于分別確定所述第一函數和第二函數的閾值，并根據所述第一函數和第二函數的閾值對所述待檢物質進行物料識別，其中，所述第二函數為高低能信號進行特征計算得到的表征材料原子量的雙能R1值；
所述雙能R1值的計算方式為：
其中，R1為所述雙能R1值，Nl為待檢測物質的低能灰度值，Nh為待檢測物質的高能灰度值，Nl0為空場的低能背景值，Nh0為空場的高能背景值，a和b均為第二函數的參數。
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