[發明專利]發光源檢測系統與方法

有效

• 申請號: 201711444310.2
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN109975299B
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發明（設計）人: 李后賢
• 申請（專利權）人: 群光電子股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇;王寧

本發明涉及一種發光源檢測系統，包括圖像獲取模塊、圖像處理模塊及檢測模塊。圖像獲取模塊獲取檢測畫面，檢測畫面包括有多個待測區圖像，這些待測區圖像分別位于檢測畫面上多個默認區域。圖像處理模塊電連接到圖像獲取模塊，圖像處理模塊接收這些待測區圖像并分別處理成具有相同二維數量的多個二維像素，其中各二維像素具有光學信息。檢測模塊電連接到圖像處理模塊，檢測模塊讀取各待測區圖像的二維像素，且根據檢測模型以檢測各待測區圖像的二維像素的光學信息，并判斷各待測區圖像為合格圖像或失格圖像。

技術領域

本發明系關于一種檢測系統，特別是指一種發光源檢測系統與方法。

背景技術

市面上許多產品都具有發光的功能，以發光式鍵盤為例，其一般是在按鍵下方裝設有發光組件(例如LED)，以通過發光組件發出光線并照射按鍵，致使按鍵上所標示的數字或文字能透出光線，而達到預定的使用需求(例如因應光照不足的使用環境)。

然后，在發光產品的生產過程中，一般都會對發光組件進行檢測，以確保發光組件所發出的光線符合預定的顏色、亮度或飽和度等等。目前的檢測方式是由生產在線的工作人員進行目測判斷，然而，此種方式工作人員易因長時間的檢測引起視覺疲勞而發生誤判的情形，且對眼睛也會造成傷害。另外，對于特殊發光產品來說，例如發光產品的顯像為不規則形態或者發光產品經由材料導光后已非基準色等情形，也難以通過人工目測的方式準確判斷。

發明內容

有鑒于此，在一實施例中，提供一種發光源檢測方法，包括獲取步驟：獲取檢測畫面，檢測畫面包括有多個待測區圖像，這些待測區圖像分別位于檢測畫面上多個默認區域、圖像處理步驟：將這些待測區圖像分別處理成具有相同二維數量的多個二維像素，其中各二維像素具有光學信息、檢測步驟：讀取各待測區圖像的二維像素，并根據檢測模型以檢測各待測區圖像的二維像素的光學信息，并判斷各待測區圖像為合格圖像或失格圖像，其中檢測模型是指依深度學習算法進行人工智能演算、并獲得輸出層演算結果的人工智能算法模型，且輸出層演算結果包括有合格圖像及失格圖像。

在另一實施例中，提供一種發光源檢測系統，包括圖像獲取模塊、圖像處理模塊及檢測模塊。圖像獲取模塊獲取檢測畫面，檢測畫面包括有多個待測區圖像，這些待測區圖像分別位于檢測畫面上多個默認區域。圖像處理模塊電連接于圖像獲取模塊，圖像處理模塊接收這些待測區圖像并分別處理成具有相同二維數量的多個二維像素，其中各二維像素具有光學信息。檢測模塊電連接于圖像處理模塊，檢測模塊讀取各待測區圖像的二維像素，且根據檢測模型以檢測各待測區圖像的二維像素的光學信息，并判斷各待測區圖像為合格圖像或失格圖像。其中，檢測模型是指依深度學習算法進行人工智能演算、并獲得輸出層演算結果的人工智能算法模型，且輸出層演算結果包括有合格圖像及失格圖像。

綜上所述，根據本發明實施例的發光源檢測方法與發光源檢測系統，通過獲取檢測畫面并經由檢測模型檢測待測區圖像以判斷發光源是否合格，可達到不需以人工目測方式辦法而提高檢測的準確性。此外，通過將各待測區圖像分別處理成具有相同二維數量的多個二維像素，可使發光源檢測的基準一致，并能提高檢測的指令周期。此外，通過檢測模型是依深度學習算法進行人工智能演算、并獲得輸出層演算結果的人工智能算法模型，還可適用于特殊發光產品，例如發光源顯像為不規則形態或發光源經由材料導光后已非基準色等情形。

附圖說明

圖1是本發明發光源檢測方法實施例的步驟流程圖。

圖2是本發明發光源檢測系統實施例的系統方塊圖。

圖3是本發明發光源檢測系統實施例的畫面獲取示意圖。

圖4是本發明發光源檢測系統實施例的檢測畫面示意圖。

圖5是本發明發光源檢測系統實施例的二維像素示意圖。

圖6是本發明待測區圖像實施例的二維像素排列示意圖。

圖7是本發明待測區圖像另一實施例的二維像素排列示意圖。