[發(fā)明專利]一種衰減全內(nèi)反射光譜儀及其應(yīng)用

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711431316.6
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN108169186B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李赫;陳榮橋;褚伍波;江南;郭春娥;郭小咪;戴高樂
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所
• 主分類號: G01N21/552
• 分類號: G01N21/552;G01N21/25
• 代理公司: 上海一平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31266
• 代理人: 姜龍;徐迅

1.一種用于檢測細(xì)菌樣品的衰減全內(nèi)反射ATR光譜儀，其特征在于，所述光譜儀包含一附件，所述附件包含：ATR晶體部件和支撐件，所述支撐件上設(shè)有樣品槽，所述ATR晶體部件包括ATR晶體；所述樣品槽具有可容納樣品的內(nèi)腔，所述ATR晶體位于所述樣品槽的內(nèi)腔上方，且與所述樣品槽連接，所述樣品槽上設(shè)有與所述內(nèi)腔連通的進(jìn)樣通道和出樣通道；所述進(jìn)樣通道包括第一端口和第二端口，所述進(jìn)樣通道的第一端口設(shè)置在樣品槽側(cè)壁的上表面，第二端口與內(nèi)腔連通；所述出樣通道包括第三端口和第四端口，所述出樣通道的第三端口與內(nèi)腔連通，第四端口設(shè)置在樣品槽側(cè)壁的上表面；其中所述進(jìn)樣通道的第二端口位于所述樣品槽內(nèi)側(cè)面，所述第二端口的位置低于所述第三端口的位置；

所述ATR晶體的下表面低于所述樣品槽的上表面，所述第一端口和第四端口設(shè)置在所述樣品槽側(cè)壁的上表面，從而形成與所述樣品槽上表面相同的液面，進(jìn)而使得所述ATR晶體部件與樣品槽內(nèi)腔內(nèi)的細(xì)菌樣品接觸；

所述進(jìn)樣通道用于向內(nèi)腔內(nèi)部輸送液體細(xì)菌樣品，所述出樣通道用于檢測內(nèi)腔液體細(xì)菌樣品是否已經(jīng)填滿并形成與ATR晶體部件接觸的樣品表面。

2.如權(quán)利要求1所述的光譜儀，其特征在于，ATR晶體部件包括固定安裝所述ATR晶體的ATR晶體座，所述ATR晶體座與所述樣品槽連接。

3.如權(quán)利要求2所述的光譜儀，其特征在于，所述ATR晶體固定安裝于所述ATR晶體座上，所述ATR晶體與樣品接觸的平面和所述ATR晶體座下表面平行或處于一個平面。

4.如權(quán)利要求2所述的光譜儀，其特征在于，所述的ATR晶體的下表面低于ATR晶體座的下表面。

5.如權(quán)利要求2所述的光譜儀，其特征在于，所述ATR晶體座與所述樣品槽密封連接。

6.如權(quán)利要求5所述的光譜儀，其特征在于，所述密封連接通過選自下組的形式實(shí)現(xiàn)：密封圈密封、密封墊密封、膠水密封、磁鐵吸附或其組合。

7.如權(quán)利要求1所述的光譜儀，其特征在于，所述樣品槽的截面為凹字形。

8.如權(quán)利要求5所述的光譜儀，其特征在于，所述ATR晶體座的下表面設(shè)有密封圈副槽；和/或所述樣品槽的上表面設(shè)有密封圈槽。

9.如權(quán)利要求8所述的光譜儀，其特征在于，所述密封圈副槽和/或所述密封圈槽的形狀選自下組：環(huán)形、多邊形。

10.如權(quán)利要求8所述的光譜儀，其特征在于，所述密封圈副槽和所述密封圈槽尺寸匹配。

11.如權(quán)利要求8所述的光譜儀，其特征在于，所述密封圈副槽和所述密封圈槽中設(shè)有密封圈。

12.如權(quán)利要求1所述的光譜儀，其特征在于，所述第一端口和所述第四端口設(shè)置接口，所述接口可以與外接管路密封連接，所述外接管路與所述樣品槽組成回路或通路，供液體樣品流動，所述液體樣品的流動動力由重力勢能或微循環(huán)泵提供。

13.如權(quán)利要求8所述的光譜儀，其特征在于，所述進(jìn)樣通道和/或所述出樣通道在所述樣品槽側(cè)壁的上表面的端口位于所述密封圈槽封閉的區(qū)域外。

14.如權(quán)利要求13所述的光譜儀，其特征在于，所述進(jìn)樣通道和/或所述出樣通道的另一端口位于所述樣品槽內(nèi)側(cè)面。

15.如權(quán)利要求1所述的光譜儀，其特征在于，所述光譜儀還包括用于封住所述進(jìn)樣通道和/或所述出樣通道的通道蓋。

16.如權(quán)利要求1所述的光譜儀，其特征在于，進(jìn)樣通道和出樣通道均具有與外界連通的一端以及與內(nèi)腔連通的一端，與外界連通的一端替換為設(shè)置在樣品槽旁側(cè)。