[發明專利]一種在JD25-C測長儀上定高度測量的方法

在審

• 申請號: 201711418069.6
• 申請日: 2017-12-25
• 公開（公告）號: CN108267061A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 方芳;史惠麗;高武正;劉旗;奚強
• 申請（專利權）人: 中浙高鐵軸承有限公司
• 主分類號: G01B5/08
• 分類號: G01B5/08;G01B5/24
• 代理公司: 杭州千克知識產權代理有限公司 33246
• 代理人: 冷紅梅

本發明涉及一種在JD25?C測長儀上定高度測量的方法，該方法利用特制高度儀及大量程百分表作為測長儀的“Z軸”；測定交叉圓柱滾子軸承內圈溝位置作為確定“Z軸”的基準，從而確定“Z軸”的“零位”；進而確定明確工件測高的前提下“Z軸”的相應定位點；測得在工件測高截面上的測頭相切點間距示值ΦD1，通過三角函數換算為圓錐形工件在測高H時的直徑ΦD；通過測得圓錐形環類零件不同截面高度的直徑差，可以計算該零件的錐角。采用本發明，既可用于標定“Z軸零位”，又可對工作臺的升降位置進行精確測量，又可精確測量距離工件定位面固定高度的直徑尺寸及圓錐類零件固定高度截面的直徑，還可以根據不同高度上直徑差測量圓錐形零件的錐角。

技術領域

本發明專利涉及圓錐形環類零件直徑和角度的檢驗與計量領域，適用于在國產JD25-C類沒有“Z軸”光柵尺的測長儀上定高度對工件直徑進行計量，同時還可以變高度對圓錐角度進行計量的一種在JD25-C測長儀上定高度測量的方法。

背景技術

JD25-C數據處理萬能測長儀是一種用于絕對測量和相對測量的長度計量儀器，精確地應用了阿貝比較原理和采用了高精密的測量系統，具有較高的測量精度，示值精度可達0.1μm。該儀器主要應用于金屬加工工業，特別是機器制造、工具及量具制造和儀器制造等企業計量室和各級專業計量部門。儀器的機械部分測量原理如圖1所示。儀器調整過程包括：（1）在儀器底座1上，選擇合適的左測頭5和右測頭8（左右測頭為一對，完全相同）分別安裝在左側測臂4和右側測臂9內；（2）固定右側測頭座10及右側測臂9，左側測頭座3及左側測臂4，使被測工件7的定位面位于工作臺6的中部；（3）轉動工作臺升降鼓輪2升降工作臺6至被測工件的測量截面高；（4）按儀器使用方法測量被測工件7的尺寸（環類零件測量工件外徑，塊規類零件測量兩平行平面間距離）。

雖然儀器的工作臺升降鼓輪2可以帶動工作臺6升降，從而測量工件距離定位面一定高度上的尺寸，但由于該儀器在工作臺升降方向上（我們定義為：Z軸）沒有基準零位及光柵反饋系統，因此測頭與工作臺在Z軸方向上的定位誤差非常大。我們所說的“測量工件距離定位面一定高度上的尺寸中的高度”誤差很大，常常用高度尺配合劃線的方式確定高度，因此該儀器的測量對象為：光滑圓柱形零件的直徑和帶平行平面的零件。

對圓錐形零件，在不同高度上的零件直徑由于錐角的原因而差異很大，如圖2所示。因此當Z軸不能精確定位的情況下，JD25-C類沒有Z軸的測長儀不能測量圓錐形零件的直徑尺寸。

發明內容

本發明的目的是提供既可用于標定“Z軸零位”，又可對工作臺的升降位置進行精確測量，又可精確測量距離工件定位面固定高度的直徑尺寸及圓錐類零件固定高度截面的直徑，還可以根據不同高度上直徑差測量圓錐形零件的錐角的一種在JD25-C測長儀上定高度測量的方法。

為解決上述問題，本專利采用如下技術方案：一種在JD25-C測長儀上定高度測量的方法，其特征在于它包括如下步驟：

（1）準備一個專用高度儀和一個交叉圓柱滾子軸承內圈；所述專用高度儀包括底座、超長立柱、量程百分表和表架，超長立柱通過梯形螺紋固定在底座上，表架左端的光孔安裝有量程百分表，超長立柱安裝在表架右端的光孔上，表架位于與滾花螺母上，滾花螺母安裝在超長立柱上并可轉動升降；所述交叉圓柱滾子軸承內圈的滾道為兩條直母線呈90°垂直相交，母線相交形成的滾道中心線與基準面間的距離為ai1（也稱：滾道位置），滾道中心線與非基準面間的距離為ai2，內圈高度B 為ai1與ai2之和；

（2）測量交叉圓柱滾子軸承內圈實際高度B；

（3）選擇測頭直徑較大、能與交叉圓柱滾子軸承內圈（以下簡稱：標準圈）滾道穩定相切的測頭，按測長儀測頭安裝方法正確安裝測頭；