[發明專利]一種用于測量頻率穩定度的系統

在審

• 申請號: 201711385576.4
• 申請日: 2017-12-20
• 公開（公告）號: CN108132382A
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: 王莉
• 申請（專利權）人: 江漢大學
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 呂耀萍

本發明公開了一種用于測量頻率穩定度的系統，屬于電子技術領域。所述系統包括：晶體振蕩器，用于輸出第一參考信號；銣原子鐘，用于輸出第二參考信號；第一信號處理單元，用于以第二參考信號作為參考，對測試信號源輸出的頻率信號進行頻率轉換，獲得1KHz頻率信號；第二信號處理單元，用于對第二參考信號進行分頻處理，得到0.9KHz頻率信號；第一測量單元，用于以第一參考信號作為參考，對1KHz頻率信號進行計數，得到計數結果；第二測量單元，用于對1KHz頻率信號和0.9KHz頻率信號進行相位比較，得到相位比較結果；處理單元，用于根據計數結果計算測試信號源的短期頻率穩定度；根據相位比較結果計算測試信號源的長期頻率穩定度。

技術領域

本發明涉及電子技術領域，特別涉及一種用于測量頻率穩定度的系統。

背景技術

高精度時間頻率政被廣泛應用在航天、通訊等眾多領域。隨著人們對時鐘源的頻率輸出的穩定性要求越來越高，如何準確檢測出時鐘源的頻率輸出的穩定性成為問題的關鍵。

發明內容

為了測量時鐘源的頻率輸出的穩定度，本發明實施例提供了一種用于測量頻率穩定度的系統。所述技術方案如下：

本發明實施例提供了一種用于測量頻率穩定度的系統，所述系統包括：第一信號處理單元、第二信號處理單元、第一測量單元、第二測量單元、晶體振蕩器、銣原子鐘和處理單元；

所述晶體振蕩器，用于輸出第一參考信號；

所述銣原子鐘，用于輸出第二參考信號；

所述第一信號處理單元，用于以所述第二參考信號作為參考，對測試信號源輸出的頻率信號進行頻率轉換，獲得1KHz頻率信號；

所述第二信號處理單元，用于對所述第二參考信號進行分頻處理，得到0.9KHz頻率信號；

所述第一測量單元，用于以所述第一參考信號作為參考，對所述1KHz頻率信號進行計數，得到計數結果；

所述第二測量單元，用于對所述1KHz頻率信號和所述0.9KHz頻率信號進行相位比較，得到相位比較結果；

所述處理單元，用于根據所述計數結果確定所述測試信號源輸出的頻率信號的第一頻率值，并采用所述第一頻率值和短期頻率穩定度計算公式，計算所述測試信號源的短期頻率穩定度；根據所述相位比較結果確定所述測試信號源輸出的頻率信號的第二頻率值，并采用所述第二頻率值和長期頻率穩定度計算公式，計算所述測試信號源的長期頻率穩定度；

所述處理單元，還用于根據所述1KHz頻率信號對所述第一測量單元的測量帶寬進行控制。

在本發明實施例的一種實現方式中，所述第一參考信號和所述第二參考信號的頻率均為10MHz。

在本發明實施例的另一種實現方式中，所述第一測量單元的測量帶寬為2KHz-3KHz。

在本發明實施例的另一種實現方式中，所述第一信號處理單元包括：走時計數子單元、DDS和PLL；

所述走時計數子單元，用于以所述第二參考信號作為基準信號，對所述測試信號源輸出的頻率信號進行計數測量，獲得所述測試信號源輸出的頻率信號的初級頻率；

所述處理單元，用于根據所述初級頻率控制所述DDS，使所述DDS輸出與所述初級頻率最接近的整數頻率信號；

所述PLL，用于對所述整數頻率信號進行倍頻，得到1KHz頻率信號。

在本發明實施例的另一種實現方式中，所述第二信號處理單元為DDS。

在本發明實施例的另一種實現方式中，所述第二測量單元包括：相位比較子單元、積分電路和模數轉換器；