[發明專利]一種測試電容和電阻值的裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201711384545.7
• 申請日: 2017-12-20
• 公開（公告）號: CN108107273B
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 陳文源;許小軍
• 申請（專利權）人: 蘇州華興源創科技股份有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08;G01R27/26
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 張雪梅

一種測試電容和電阻值的裝置，包括：輸入模塊、測量模塊、校準模塊、增益控制模塊和處理模塊，其中，輸入模塊、校準模塊、增益控制模塊中的每一個均包括選通開關，用于與輸入模塊、校準模塊以及增益控制模塊中的其它部件相配合，選擇接入的其它部件，以及其中，測量模塊生成掃描激勵信號，并根據自處理模塊輸入到選通開關的控制信號的不同而形成的不同連接關系，依次生成系統校準值和測量值，并將所生成的系統校準值與測量值輸出至處理模塊，通過處理模塊計算得到待測電容或者待測電阻的值。本發明還公開了一種測試電容和電阻值的方法。

技術領域

本發明涉及元器件測試領域。更具體地，涉及一種測試電容和電阻值的裝置及測試方法。

背景技術

現在的電子電路中，不管是硬制板還是柔性版，都分布有電阻或者電容等器件，為了檢測制板過后元件貼片是否良好，需要一種能方便地判斷器件是否貼對及所貼元件值是否在標準范圍內的裝置和方法。

測試元件電容電阻值大致可分為以下兩種方法：LCR儀表測試法和電路測試法。其中，LCR儀表測試法串接精準儀表直接測量，將表筆所測電阻或者電容值讀出或傳輸到PC機處理。測試儀表一般體積大，需放在設備里，故整個方案結構會很龐大，攜帶不便且精準儀器價格昂貴，成本高。電路測試法需要搭建分立元件電路間接測試，例如電橋電路，諧振電路或者矢量電壓電路來測試電阻元件的阻值，用充放電電路測試電容元件的容值。分立元件搭建的間接測試法器件多，運算粗糙，不精確且穩定性低，易出錯。

因此，需要提供一種既結構簡單、成本低、且能夠精確快速測試電容和電阻值的裝置及方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種能夠精確快速測試電容和電阻值的裝置。

為達到上述目的，本發明采用下述技術方案：

一種測試電容和電阻值的裝置，其特征在于，包括：輸入模塊、測量模塊、校準模塊、增益控制模塊和處理模塊，

其中，輸入模塊、校準模塊、增益控制模塊中的每一個均包括選通開關，用于與輸入模塊、校準模塊以及增益控制模塊中的其它部件相配合，選擇接入的其它部件，以及

其中，測量模塊生成掃描激勵信號，并根據自處理模塊輸入到選通開關的控制信號的不同而形成的不同連接關系，依次生成系統校準值和測量值，并將所生成的系統校準值與測量值輸出至處理模塊，通過處理模塊計算得到待測電容或者待測電阻的值。

優選地，選通開關包括使能控制端、選擇控制端、公共端以及多路選擇端，其中，使能控制端用于接收輸入使能信號并啟動選通開關，選擇控制端根據自處理模塊輸入的選通信號唯一地確定公共端對多路選擇端的連接選擇。

優選地，選通開關包括第一選通開關、第二選通開關、第三選通開關和第四選通開關，

其中，第一選通開關和第二選通開關用于選擇是否接入輸入模塊，當接入輸入模塊時，用于選擇是否接入待測電容或待測電阻，或者選擇接入的待測電容或待測電阻；

其中，第三選通開關用于選擇是否接入校準模塊，當接入校準模塊時，用于選擇接入的電阻種類；以及

其中，第四選通開關用于選擇接入的反饋電阻的阻值，以控制裝置在測試時保證外部增益為1從而達到信號完整。

優選地，在第一選通開關的多路選擇端中的一個與第二選通開關的多路選擇端中的一個之間預先連接有一個零電阻，第一選通開關的其它多路選擇端分別與待測電容或待測電阻的每一個的一端連接，第二選通開關中的其它多路選擇端分別與待測電容或待測電阻的每一個的另一端連接。

優選地，增益控制模塊包括放大器、多個反饋電阻和第四選通開關，多個反饋電阻分別與第四選通開關的多路選擇端連接，多個反饋電阻的另一端連接在一起與第四選通開關共同跨接在放大器的反向輸入端與輸出端之間。