[發(fā)明專利]一種信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路及方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711383217.5
• 申請(qǐng)日: 2017-12-20
• 公開（公告）號(hào): CN108414822A
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐斌桓
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 聯(lián)發(fā)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R19/25
• 分類號(hào): G01R19/25
• 代理公司: 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 何青瓦

本發(fā)明提供一種信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路，其包括采樣電路和比較電路。該采樣電路根據(jù)多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)采樣與目標(biāo)設(shè)備相關(guān)的輸入信號(hào)，并分別生成對(duì)應(yīng)于該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)的多個(gè)已采樣比特。該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)由采樣時(shí)間和采樣參考電壓的不同結(jié)合設(shè)置，并且該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)的數(shù)量大于4。該比較電路根據(jù)該多個(gè)已采樣比特執(zhí)行比較，以生成信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果。本發(fā)明還提供對(duì)應(yīng)的方法。本發(fā)明能實(shí)現(xiàn)測(cè)量設(shè)備的電信號(hào)的信號(hào)質(zhì)量，成本低。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明的所公開實(shí)施例涉及信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)方案，且更具體而言，涉及一種根據(jù)二維標(biāo)稱采樣點(diǎn)圖案生成信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果的信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路及相關(guān)信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

示波器是一種電子測(cè)試儀器，其允許觀察不斷變化的信號(hào)電源，且通常顯示作為時(shí)間函數(shù)的一個(gè)或多個(gè)信號(hào)的二維圖。因此，該示波器通常用于觀察隨著時(shí)間變化的電信號(hào)(例如，電壓信號(hào))的變化。為了確定信號(hào)特性，如幅度、頻率、失真以及其他，可以分析所觀察的波形。但是，使用示波器來(lái)測(cè)量處于測(cè)試中的設(shè)備的電信號(hào)的信號(hào)質(zhì)量，相關(guān)準(zhǔn)備工作非常麻煩。此外，需要該示波器使用探針來(lái)接收來(lái)自于處于測(cè)試中的設(shè)備的信號(hào)。然而，探針可能無(wú)法直接與處于測(cè)試中的設(shè)備接觸，并且因此通過(guò)中間的介質(zhì)/結(jié)構(gòu)來(lái)與處于測(cè)試中的設(shè)備間接連接，因此，處于測(cè)試中的設(shè)備的該電信號(hào)的實(shí)際信號(hào)質(zhì)量與所測(cè)試的信號(hào)質(zhì)量可能不相同。

示波器相當(dāng)昂貴，并不是每個(gè)制造商能夠支付的。此外，示波器需要校準(zhǔn)、維修等。因此，可能需要相當(dāng)?shù)氖静ㄆ鞯木S修費(fèi)用。另外，需要大量的人力來(lái)使用示波器執(zhí)行信號(hào)質(zhì)量測(cè)量。因此，使用示波器來(lái)測(cè)量處于測(cè)試中的設(shè)備的電信號(hào)的信號(hào)質(zhì)量并不是節(jié)省成本的方案。

因此，需要一種能夠檢測(cè)處于測(cè)試中的設(shè)備(例如，動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)的電信號(hào)的實(shí)際信號(hào)質(zhì)量而無(wú)需示波器的新型信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方案。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目標(biāo)之一是提供一種根據(jù)二維標(biāo)稱采樣點(diǎn)圖案生成信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果的信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路及相關(guān)信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)方法。

根據(jù)本發(fā)明的第一方面，公開一種實(shí)例性的信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路。所述實(shí)例性的信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路包括采樣電路和比較電路。該采樣電路用于根據(jù)多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)采樣與目標(biāo)設(shè)備相關(guān)的輸入信號(hào)，并分別生成對(duì)應(yīng)于該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)的多個(gè)已采樣比特，其中，該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)由采樣時(shí)間和采樣參考電壓的不同結(jié)合設(shè)置，且該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)的數(shù)量大于4。該比較電路用于通過(guò)根據(jù)該多個(gè)已采樣比特執(zhí)行比較，生成信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果。

根據(jù)本發(fā)明的第二方面，公開一種實(shí)例性的信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)方法。該實(shí)例性的信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)方法包括：通過(guò)采用時(shí)間和采樣參考電壓的不同結(jié)合設(shè)置該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)，其中該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)的數(shù)量大于4；根據(jù)該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)采樣與目標(biāo)設(shè)備相關(guān)的輸入信號(hào)，并分別生成對(duì)應(yīng)于該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)的多個(gè)已采樣比特；以及通過(guò)根據(jù)該多個(gè)已采樣比特執(zhí)行比較，生成信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果。

本發(fā)明通過(guò)采樣時(shí)間和采樣參考電壓的不同結(jié)合來(lái)設(shè)置多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)，進(jìn)而根據(jù)該多個(gè)標(biāo)稱采樣點(diǎn)對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行采樣，并生成已采樣比特，根據(jù)已采樣比特生成信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)結(jié)果，從而實(shí)現(xiàn)測(cè)量設(shè)備的電信號(hào)的信號(hào)質(zhì)量，成本低。

在閱讀以下對(duì)各圖及圖式中所例示的優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)說(shuō)明之后，本發(fā)明的這些及其它目標(biāo)無(wú)疑將對(duì)所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員顯而易見。

附圖說(shuō)明

圖1是例示根據(jù)標(biāo)稱采樣點(diǎn)對(duì)輸入信號(hào)執(zhí)行的采樣操作的示意圖。

圖2是例示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的二維標(biāo)稱點(diǎn)圖案的示意圖。

圖3是例示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路的示意圖。

圖4是例示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的具有內(nèi)部信號(hào)質(zhì)量檢測(cè)電路的存儲(chǔ)器芯片的示意圖。

圖5是例示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的圖3中采樣電路和比較電路的一種電路設(shè)計(jì)的示意圖。