[發明專利]一種可控硅脈沖故障檢測儀

在審

• 申請號: 201711382060.4
• 申請日: 2017-12-20
• 公開（公告）號: CN108226738A
• 公開（公告）日: 2018-06-29
• 發明（設計）人: 龐曉柯
• 申請（專利權）人: 鄭州舒柯科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳茂達智聯知識產權代理事務所(普通合伙) 44394
• 代理人: 胡慧

本發明公開了一種可控硅脈沖故障檢測儀，包括電源VDD、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C、集成電路IC、二極管D1、二極管D2、繼電器J、三極管BG1、發光二極管LED1和發光二極管LED2；可控硅脈沖輸入信號通過所述電阻R1與所述三極管BG1的基極連接；所述可控硅脈沖輸入信號正常時，所述發光二極管LED1點亮且為綠色；所述可控硅脈沖輸入信號消失或者漏掉較多時，所述發光二極管LED2點亮且為紅色。本發明通過對可控硅脈沖輸入信號進行直接檢測，其檢測結果用發光二極管LED1綠色發光表示正常，發光二極管LED2紅色發光表示故障；檢測過程直接高效、精準，檢測結果顯示直觀；精巧方便、簡單實用，且能夠自動進行指示。

技術領域

本發明涉及到可控硅檢測領域，尤其涉及到一種可控硅脈沖故障檢測儀。

背景技術

可控硅，是可控硅整流元件的簡稱，是一種具有三個PN結的四層結構的大功率半導體器件，亦稱為晶閘管。具有體積小、結構相對簡單、功能強等特點，是比較常用的半導體器件之一。該器件被廣泛應用于各種電子設備和電子產品中，多用來作可控整流、逆變、變頻、調壓、無觸點開關等。

可控硅作為工控設備中的重要組成部分，一旦出現故障，往往會導致系統效率下降或者停止運行，嚴重的甚至會造成設備自身的損壞。

目前對可控硅故障的檢測多為示波器或者測電阻等方式，這些不夠高效直接，導致判斷結果不理想。

因此，現有技術存在缺陷，需要改進。

發明內容

本發明提供一種可控硅脈沖故障檢測儀,解決的不夠高效直接，導致判斷結果不理想問題。

為解決上述問題，本發明提供的技術方案如下：

一種可控硅脈沖故障檢測儀，包括電源VDD、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C、集成電路IC、二極管D1、二極管D2、繼電器J、三極管BG1、發光二極管LED1和發光二極管LED2；可控硅脈沖輸入信號通過所述電阻R1與所述三極管BG1的基極連接；所述可控硅脈沖輸入信號正常時，所述發光二極管LED1點亮且為綠色；所述可控硅脈沖輸入信號消失或者漏掉較多時，所述發光二極管LED2點亮且為紅色。

優選的技術方案，當檢測到可控硅脈沖輸入信號故障時，能夠通過所述繼電器J的觸點控制故障電路的工作狀態。

優選的技術方案，所述三極管BG1飽和導通時，所述電容C通過所述二極管D1進行充電電壓自放電。

優選的技術方案，所述電源VDD電壓為DC12V。

優選的技術方案，所述集成電路IC為555芯片。

相對于現有技術的有益效果是，采用上述方案，本發明通過對可控硅脈沖輸入信號進行直接檢測，其檢測結果用發光二極管LED1綠色發光表示正常，發光二極管LED2紅色發光表示故障；檢測過程直接高效、精準，檢測結果顯示直觀；精巧方便、簡單實用，且能夠自動進行指示。

附圖說明

為了更清楚的說明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需使用的附圖作簡單介紹，顯而易見的，下面描述中的附圖僅僅是發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明的一種可控硅脈沖故障檢測儀電路原理圖。

具體實施方式

為了便于理解本發明，下面結合附圖和具體實施例，對本發明進行更詳細的說明。附圖中給出了本發明的較佳的實施例。但是，本發明可以以許多不同的形式來實現，并不限于本說明書所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本發明的公開內容的理解更加透徹全面。