[發明專利]一種量子點表面配體覆蓋率的測定方法

在審

• 申請號: 201711350110.0
• 申請日: 2017-12-15
• 公開（公告）號: CN109932377A
• 公開（公告）日: 2019-06-25
• 發明（設計）人: 覃輝軍;葉煒浩;楊一行
• 申請（專利權）人: TCL集團股份有限公司
• 主分類號: G01N23/2273
• 分類號: G01N23/2273
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 王永文;劉文求

1.一種量子點表面配體覆蓋率的測定方法，其特征在于，包括：

提供樣品顆粒，所述樣品顆粒的單個顆粒包括量子點和結合在所述量子點表面的的有機配體，所述的有機配體選自脂肪羧酸配體、含氮的有機配體、含磷的有機配體或含巰基的有機配體；

測定所述樣品顆粒中顆粒的平均粒徑；

將樣品顆粒置于X射線光電子能譜分析儀中，利用X射線光電子能譜分析儀，用AlKα線激發樣品顆粒，用C1s譜線作電荷矯正，檢測樣品顆粒中各元素的含量，計算得到量子點表面配體覆蓋率K_i;

其中，當量子點表面的有機配體為脂肪羧酸配體時，所述量子點中不含氧元素；當量子點表面的有機配體為含氮的有機配體時，所述量子點中不含氮元素；當量子點表面的有機配體為含磷的有機配體時，所述量子點中不含磷元素；當量子點表面的有機配體為含巰基的有機配體時，所述量子點中不含硫元素。

2.根據權利要求1所述量子點表面配體覆蓋率的測定方法，其特征在于，利用X射線光電子能譜分析儀測試樣品顆粒中各元素的特征光譜，用軟件計算得到各元素特征峰的積分面積，得到有機配體中特征元素的占樣品顆粒質量比計算得到所述量子點表面配體覆蓋率K_i，其中，當量子點表面的有機配體為脂肪羧酸配體時，所述有機配體中的特征元素為氧元素；當量子點表面的有機配體為含氮的有機配體時，所述有機配體中的特征元素為氮元素；當量子點表面的有機配體為含磷的有機配體時，所述有機配體中的特征元素為磷元素；當量子點表面的有機配體為含巰基的有機配體時，所述有機配體中的特征元素為硫元素。

3.根據權利要求1所述量子點表面配體覆蓋率的測定方法，其特征在于，所述量子點為一元量子點、二元量子點、三元量子點或四元量子點。

4.根據權利要求3量子點表面配體覆蓋率的測定方法，其特征在于，

所述一元量子點選自Au、Ag、Cu、Pt或C量子點；

所述二元量子點選自CdSe、ZnSe、PbSe、CdTe、ZnO、MgO、CeO₂、NiO、TiO₂、InP或CaF₂量子點；

所述三元量子點選自CdZnS、CdZnSe、CdSeS、PbSeS、ZnCdTe、CdS/ZnS、CdZnS/ZnS、CdZnSe/ZnSe、CdSeS/ CdSeS /CdS、CdSe/CdZnSe/CdZnSe/ZnSe、CdZnSe/CdZnSe/ZnSe、CdS/CdZnS/CdZnS/ZnS、NaYF₄或NaCdF₄量子點；

所述的四元量子點選自CdZnSeyS、CdSe/ZnS、CdZnSe/ZnS、CdSe/CdS/ZnS、CdSe/ZnSe/ZnS、CdZnSe/CdZnS/ZnS或InP/ZnS量子點。

5.根據權利要求1所述量子點表面配體覆蓋率的測定方法，其特征在于，所述含巰基的有機配體選自一硫醇、二硫醇、巰基醇、巰基胺或巰基酸；

所述脂肪羧酸配體為C原子數為8~18之間的脂肪酸；

所述含磷的有機配體選自烷基磷、烷基氧膦或烷基磷酸；

所述含氮的有機配體為碳原子數大于8的有機胺。

6.根據權利要求1所述量子點表面配體覆蓋率的測定方法，其特征在于，將樣品顆粒置于X射線光電子能譜分析儀中之前，還包括對樣品顆粒進行壓制的步驟，壓制壓力為5-15MPa，壓制5-15s。

7.根據權利要求1所述量子點表面配體覆蓋率的測定方法，其特征在于，將樣品顆粒置于X射線光電子能譜分析儀中，利用X射線光電子能譜分析儀，用AlKα線激發樣品，用C1s譜線作電荷矯正，檢測樣品顆粒中各元素的含量，計算得到量子點表面配體覆蓋率的測定條件為：X射線功率為10~20KV*10~20mA，X射線光電子能譜分析儀的真空度為1~10*10^-9Mbar，初始測試范圍為0-1200eV，精確測試范圍為30-50eV。