[發(fā)明專利]基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711343139.6 | 申請日: | 2017-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN108168702B | 公開(公告)日: | 2023-09-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 閆亞東;何俊華;許瑞華;齊文博;韋明智;吳冰靜 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號: | G01J3/44 | 分類號: | G01J3/44;G01J3/02 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 陳廣民 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 散射 取樣 孔徑 背向 測量 系統(tǒng) | ||
1.一種基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:包括離軸拋物面型散射板和位于離軸拋物面型散射板焦點(diǎn)處的探頭組,所述探頭組包括兩個能量測量單元、兩個時間測量單元、兩個光譜測量單元、一個標(biāo)定探頭單元和一個空間分布測量單元;兩個能量測量單元分別用于進(jìn)行長波能量測量和短波能量測量,兩個時間測量單元分別用于進(jìn)行長波時間測量和短波時間測量,兩個光譜測量單元分別用于進(jìn)行長波光譜測量和短波光譜測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:所述能量測量單元包括沿光路方向依次設(shè)置的能量測量帶通濾光片、能量測量可變光闌、能量測量聚光鏡頭和能量計。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:在用于長波能量測量的能量測量單元中,能量測量帶通濾光片的通光帶寬為400-700nm;在用于短波能量測量的能量測量單元中,能量測量帶通濾光片的通光帶寬為351±3nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:所述時間測量單元包括沿光路方向依次設(shè)置的時間測量帶通濾光片、時間測量耦合鏡頭和快光電管。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:在用于長波時間測量的時間測量單元中,時間測量帶通濾光片的通光帶寬為400-700nm;在用于短波時間測量的時間測量單元中,時間測量帶通濾光片的通光帶寬為351±3nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:所述光譜測量單元包括沿光路方向依次設(shè)置的光譜測量帶通濾光片、光譜測量光闌、光譜測量耦合鏡頭和多模光纖,所述多模光纖與光譜儀相連。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:在用于長波光譜測量的光譜測量單元中,光譜測量帶通濾光片的通光帶寬為400-700nm;在用于短波光譜測量的光譜測量單元中,光譜測量帶通濾光片的通光帶寬為351±3nm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7中任一所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:所述標(biāo)定探頭單元包括光電探頭和可旋轉(zhuǎn)保護(hù)蓋板。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-7中任一所述的基于散射板散射取樣的全孔徑背向散射光測量系統(tǒng),其特征在于:所述空間分布測量單元包括空間分布成像鏡頭和ICCD相機(jī),所述空間分布成像鏡頭內(nèi)設(shè)置有空間分布測量可變光闌。
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