[發明專利]用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統在審
| 申請號： | 201711343130.5 | 申請日： | 2017-12-14 |
| 公開（公告）號： | CN108168701A | 公開（公告）日： | 2018-06-15 |
| 發明（設計）人： | 閆亞東;何俊華;許瑞華;齊文博;韋明智;吳冰靜 | 申請（專利權）人： | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | G01J3/42 | 分類號： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人： | 陳廣民 |
| 地址： | 710119 陜西省西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 反射型 散射板 背向散射光 測量系統 拋物面 全孔徑 探頭組 光路 集束 激光 測量 光學測量技術 離軸拋物面 取樣和測量 疊加信號 光譜測量 空間分布 漫反射光 能量測量 時間測量 反射面 焦點處 體積小 面型 損傷 | ||
1.一種用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：包括多個具有同一離軸拋物面面型的反射型散射板，所有反射型散射板的反射面位于同一個拋物面上，所述拋物面的焦點處設置有探頭組。
2.根據權利要求1所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：所述探頭組包括兩個能量測量單元、兩個時間測量單元、兩個光譜測量單元、一個標定探頭單元和一個空間分布測量單元；兩個能量測量單元分別用于進行長波能量測量和短波能量測量，兩個時間測量單元分別用于進行長波時間測量和短波時間測量，兩個光譜測量單元分別用于進行長波光譜測量和短波光譜測量。
3.根據權利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：所述能量測量單元包括沿光路方向依次設置的能量測量帶通濾光片、能量測量可變光闌、能量測量聚光鏡頭和能量計。
4.根據權利要求3所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：在用于長波能量測量的能量測量單元中，能量測量帶通濾光片的通光帶寬為400-700nm；在用于短波能量測量的能量測量單元中，能量測量帶通濾光片的通光帶寬為351±3nm。
5.根據權利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：所述時間測量單元包括沿光路方向依次設置的時間測量帶通濾光片、時間測量耦合鏡頭和快光電管。
6.根據權利要求5所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：在用于長波時間測量的時間測量單元中，時間測量帶通濾光片的通光帶寬為400-700nm；在用于短波時間測量的時間測量單元中，時間測量帶通濾光片的通光帶寬為351±3nm。
7.根據權利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：所述光譜測量單元包括沿光路方向依次設置的光譜測量帶通濾光片、光譜測量光闌、光譜測量耦合鏡頭和多模光纖，所述多模光纖與光譜儀相連。
8.根據權利要求7所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：在用于長波光譜測量的光譜測量單元中，光譜測量帶通濾光片的通光帶寬為400-700nm；在用于短波光譜測量的光譜測量單元中，光譜測量帶通濾光片的通光帶寬為351±3nm。
9.根據權利要求2-8中任一所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：所述標定探頭單元包括光電探頭和可旋轉保護蓋板。
10.根據權利要求2-8中任一所述的用于集束打靶激光的全孔徑背向散射光測量系統，其特征在于：所述空間分布測量單元包括空間分布成像鏡頭和ICCD相機，所述空間分布成像鏡頭內設置有空間分布測量可變光闌。
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